parcial de nano 2

El análisis de un material por difracción de rayos X permite:

• Determinar el estado de oxidación de los elementos presentes

• Determinar los grupos funcionales presentes

• Determinar la topografía de la superficie

• Ninguna de las anteriores

El SEM se clasifica entre las técnicas de:

• Microscopia electrónica

• Microscopia óptica

• Microscopia de barrido por sonda

• Todas las anteriores

La espectroscopia RAMAN se basa en:

• La dispersión de radiación por parte de un material

• La emisión de radiación de por parte de un material

• La absorción de radiación por parte de un material

• Todas las anteriores

La espectroscopia infrarroja es útil para identificar:

• La topografía de una nanoestructura basada en el tipo de radiación

• El estado de oxidación de los elementos presentes en un material

• Los grupos funcionales presentes en un material

• Todas las anteriores

Las imágenes de microscopia de fuerza atómica pueden ser adquiridas mediante el modo:

• Contacto, no contacto y tapping

• Retrodispersado, secundario y rayos X

• Tuneleo, rayos γ y rayos X

• Ninguna de las anteriores

Los materiales mesoporosos se encuentran dentro del rango de tamaño de poros de:

• > 100 nm

• 2 nm y 50 nm

• < 2 nm

• Ninguna de las anteriores

La siguiente corresponde a un tipo de nanolitografía:

• Litografía óptica

• Litografía de rayos X

• Litografía de electrones

• Todas las anteriores

Una de las aplicaciones fundamentales de la espectroscopía fotoelectrónica por rayos X es el estudio de:

• La cristalinidad de la superficie

• La composición de una superficie

• La topografía de la superficie

• Cualquiera de las anteriores

El dry-etching se realiza mediante la utilización de:

• Plasma

• Líquidos

• Sólidos

• Todas las anteriores

Dentro de las aplicaciones de la difracción de rayos X se encuentra:

• Identificación de fases cristalinas

• Análisis cuantitativo

• Pureza de muestras

• Todas las muestras