NiD

NiD

Assessment

Quiz

others

Practice Problem

Hard

Created by

Bartosz Petlik

FREE Resource

Student preview

quiz-placeholder

69 questions

Show all answers

1.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Identyfikacja uszkodzenia polega na:

wskazaniu uszkodzonego elementu (lub elementów), odpowiedzialnego za niesprawność układu
przewidzeniu uszkodzenia
określeniu rodzaju uszkodzenia, najczęściej w postaci wartości odchylenia parametru elementu od granic tolerancji
wykryciu niesprawności układu

2.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

W jakim typie obudowy układu scalonego wyprowadzenia znajdują się tylko przy dwóch bocznych krawędziach?

Ball Grid Array (BGA)
Small Outline package (SOP)
Quad Flat Package (QFP)
Land Grid Array (LGA)

3.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Jakiego słowa używamy najczęściej do określenia reprezentacji defektu na poziomie abstrakcyjnej funkcji układu w diagnostyce układów elektronicznych?

uszkodzenie
wada
defekt
usterka

4.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Które zdanie jest prawdziwe w stosunkudo zjawiska elektromigracji, czyli efektustarzenia?

Zjawisko jest spowodowane brakiemoddziaływania elektronów z jonami przyprzepływie prądu
Elektromigracja zwiększaniezawodność układów scalonych
Wysoka temperatura zwiększanegatywne skutki elektromigracji
Zjawisko jest szczególnie ważne przyprzepływie małych prądów

5.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Który rodzaj testowania jest realizowany na nowym układzie zanim zostanie skierowany do produkcji?

Characterization testing
Incoming inspection
Burn-in testing
Production testing

6.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Który etap metody lutowania rozpływowego jest realizowany na końcu?

Naniesienie pasty lutowniczej
Rozmieszczenie elementów
Nałożenie szablonu na pakiet PCB
Ogrzewanie i schładzanie pakietu PCB

7.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Które stwierdzenie nie dotyczy testera typu flying-probe?

Szybkość działania jest niska
Nie jest konieczne wprowadzenie zmian mechanicznych przy zmianie rozkładu wyprowadzeń testowanego układu
Czas opracowywania testów jest wydłużony
Nadaje się on do testowania układów prototypowych

Create a free account and access millions of resources

Create resources

Host any resource

Get auto-graded reports

Google

Continue with Google

Email

Continue with Email

Classlink

Continue with Classlink

Clever

Continue with Clever

or continue with

Microsoft

Microsoft

Apple

Apple

Others

Others

Already have an account?