
NiD
Authored by Bartosz Petlik
others

AI Actions
Add similar questions
Adjust reading levels
Convert to real-world scenario
Translate activity
More...
Content View
Student View
69 questions
Show all answers
1.
MULTIPLE CHOICE QUESTION
30 sec • 1 pt
Identyfikacja uszkodzenia polega na:
wskazaniu uszkodzonego elementu (lub elementów), odpowiedzialnego za niesprawność układu
przewidzeniu uszkodzenia
określeniu rodzaju uszkodzenia, najczęściej w postaci wartości odchylenia parametru elementu od granic tolerancji
wykryciu niesprawności układu
2.
MULTIPLE CHOICE QUESTION
30 sec • 1 pt
W jakim typie obudowy układu scalonego wyprowadzenia znajdują się tylko przy dwóch bocznych krawędziach?
Ball Grid Array (BGA)
Small Outline package (SOP)
Quad Flat Package (QFP)
Land Grid Array (LGA)
3.
MULTIPLE CHOICE QUESTION
30 sec • 1 pt
Jakiego słowa używamy najczęściej do określenia reprezentacji defektu na poziomie abstrakcyjnej funkcji układu w diagnostyce układów elektronicznych?
uszkodzenie
wada
defekt
usterka
4.
MULTIPLE CHOICE QUESTION
30 sec • 1 pt
Które zdanie jest prawdziwe w stosunkudo zjawiska elektromigracji, czyli efektustarzenia?
Zjawisko jest spowodowane brakiemoddziaływania elektronów z jonami przyprzepływie prądu
Elektromigracja zwiększaniezawodność układów scalonych
Wysoka temperatura zwiększanegatywne skutki elektromigracji
Zjawisko jest szczególnie ważne przyprzepływie małych prądów
5.
MULTIPLE CHOICE QUESTION
30 sec • 1 pt
Który rodzaj testowania jest realizowany na nowym układzie zanim zostanie skierowany do produkcji?
Characterization testing
Incoming inspection
Burn-in testing
Production testing
6.
MULTIPLE CHOICE QUESTION
30 sec • 1 pt
Który etap metody lutowania rozpływowego jest realizowany na końcu?
Naniesienie pasty lutowniczej
Rozmieszczenie elementów
Nałożenie szablonu na pakiet PCB
Ogrzewanie i schładzanie pakietu PCB
7.
MULTIPLE CHOICE QUESTION
30 sec • 1 pt
Które stwierdzenie nie dotyczy testera typu flying-probe?
Szybkość działania jest niska
Nie jest konieczne wprowadzenie zmian mechanicznych przy zmianie rozkładu wyprowadzeń testowanego układu
Czas opracowywania testów jest wydłużony
Nadaje się on do testowania układów prototypowych
Access all questions and much more by creating a free account
Create resources
Host any resource
Get auto-graded reports

Continue with Google

Continue with Email

Continue with Classlink

Continue with Clever
or continue with

Microsoft
%20(1).png)
Apple
Others
Already have an account?