WorksheetsMikroskopie und Mikroanalytik WiSe 25/26: Kapitel 5 TEM
Total questions: 8
Worksheet time: 5mins
Welcher Bereich von Beschleunigungsspannungen ist für TEM-Untersuchungen geeignet?
1 – 5 eV
50 – 500 eV
0,1 – 1 keV
10 – 2000 keV
50 – 500 keV
Welcher Bilderzeugungsmodus der Transmissionselektronenmikroskopie ist auf dem Bild zu erkennen?
Abbildungsmodus
Strahlung-Modus
Beugungsmodus
Streuungsmodus
Punktmodus
Welche Verfahren sind für die Probenpräparation einer TEM-Untersuchung geeignet?
Ultramikrotomie
Ionenätzung
Schleifen, Polieren und Verdünnung in einer Ionenmühle
Fokussierter Ionenstrahl (FIB)
Elektropolieren
Wie ist die maximale Probendicke für die TEM-Untersuchung eines austenitischen Stahls?
200 nm
2 µm
100 µm
1000 nm
5-50 nm
Das Bild zeigt die Elektronenbeugung einer TEM-Untersuchung. Welche Kristallstruktur erzeugt das Bild?
Konzentrischer Kristall
Monokristall
Kristallzwilling
Einkristall
Polykristall
Welche Randbedingungen sollten für die Durchführung einer Atomsondentomografie eingehalten werden?
Tiefe Temperaturen
Ultrahochvakuum
Niedrigvakuum
Hochspannungsfelder
Leitfähigkeit der Probe
Welche Messparameter sind für die Durchführung einer Atomsondentomografie wichtig?
Beschleunigungsspannung der Elektronen
Spannung der Feldverdampfung
Flugzeit der Ionen
Ionisierungspotenzial
Position der Ionen im Detektor
Welche Elektronen des Interaktionsvolumens („Birne“) werden bei TEM-Untersuchungen genutzt?
Transmittierte Elektronen
Primärelektronen
Sekundärelektronen
Auger-Elektronen
Gebeugte Elektronen
