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MM_WiSe25/26_Repetitoriumsquiz

Total questions: 12

Worksheet time: 8mins

Name
Class
Date
1.
Was ist kein Bestandteil eines Gefüges?
a)

Kometenschweife

b)

Phasengrenzen

c)

Korngrenzen

d)

Einschlüsse

e)

Schlüsselversetzungen

2.
Welche der folgenden Gefüge sind zweiphasig?
a)

Dualphasengefüge

b)

Duplexgefüge

c)

Betagefüge

d)

Dispersionsgefüge

e)

Netzgefüge

3.
Beim Elektropolieren wird die Probenoberfläche...?
a)

Anodisch geschaltet

b)

Kathodisch geschaltet

c)

In einen Elektrolyt eingetaucht

d)

Mechanisch verformt

e)

durch eine Wechselspannung abgetragen

4.
Beim Kalteinbetten wird das Einbettmittel mit einem Weichmacher vermischt und in Form gegossen.
a)

Ja

b)

Nein

5.
Wodurch kann das Auflösungsvermögen eines Mikroskops gesteigert werden?
a)

Verwendung einer kürzeren Wellenlänge

b)

Verwendung einer längeren Wellenlänge

c)

größere Apertur

d)

kleinere Apertur

6.
Welche der folgenden Bauteile werden beim Lichtmikroskop für den Dunkelfeldkontrast benötigt?
a)

Leuchte

b)

Spiegeltreppe

c)

Reflektrorring

d)

Hohlspiegelring

e)

Lambdaplatte

7.
Welche der folgenden Signale können beim Elektronenbeschuss einer metallischen Probe entstehen?
a)

Sekundärelektronen

b)

Absorbierte Elektronen

c)

Auger-Elektronen

d)

Charakteristische Röntgenstrahlung

e)

Tertiärelektronen

8.
Im REM können Elektronenbeugungsuntersuchungen durchgeführt werden.
a)

Ja

b)

Nein

9.
Wodurch kann das Signal des EDS-Detektors verbessert werden?
a)

Höhere Beschleunigungsspannung

b)

Ausschalten der Infrarot-LED der Kammerkamera

c)

Einschalten der Infrarot-LED der Kammerkamera

d)

Größerer Strahlstrom

e)

Kleinerer Strahlstrom

10.
Kikuchi-Pattern sind…?
a)

Charakteristisch für eine Kristallorientierung.

b)

Charakteristisch für ein Kristallgitter.

c)

für EBSD-Untersuchungen erforderlich.

d)

aus vielen Kikuchi-Linien zusammengesetzt.

e)

an amorphen Proben erzeugbar.

11.
Welche Kräfte können für die Rasterkraftmikroskopie genutzt werden?
a)

chemische

b)

elektrostatische

c)

magnetostatische

d)

van-der-Waals

e)

magnetooptische

12.
Bei der Konfokalmikroskopie sind der Punkt in der Mitte der Lochblende und der Beleuchtungspunkt auf der Probe nie zeitgleich im Fokus.
a)

Ja

b)

Nein