Font size
WorksheetsМетоды характеризации наноструктур
Total questions: 16
Worksheet time: 8mins
Физической основой методов электронной микроскопии является:
Волновая природа движущихся с большой скоростью электронов
Явление локального усиления электрического поля вблизи наночастиц
Эффект туннелирования электронов между образцом и проводящим наконечником
Волновой сущностью фотонов с энергией порядка десятка эВ
Просвечивающий электронный микроскоп позволяет исследовать объекты:
В любой среде
В вакууме
В газовой среде при повышенном давлении
В газовой среде при пониженном давлении
Для построения изображений сканирующий электронный микроскоп использует:
Ослабленные образцом первичные электроны
Испускаемые образцом ионы
Испускаемые образцом вторичные электроны
Испускаемые образцов фотоны
Современные просвечивающие электронные микроскопы позволяют исследовать объекты с пространственным разрешением:
Менее 1 нм
Более 1 нм
Пространственное разрешение сканирующего электронного микроскопа по сравнению с просвечивающим
На порядок величины ниже
В 3-4 раза выше
Примерно одинаково
Примерно в десять пятнадцать пять десять пятого выше
Какое условие необходимо для достижения атомарного разрешения на атомно-силовом микроскопе?
Вакуум
Хорошая проводимость образца
Использование очень тонкого образца
Люминесцентные методы являются:
Более чувствительными, чем абсорбционные
Чувствительность методов одинакова
Менее чувствительными, чем абсорбционные
Комбинационное рассеяние света возникает в результате:
Поглощения света исследуемым образцом
Упругого рассеяния света исследуемым образцом
Неупругого рассеяния света исследуемым образцом
Интенсивность комбинационного рассеяния света по сравнению с интенсивностью люминесценции:
на 3-5 порядка больше
На 3-5 порядка меньше
Сравнима
На 2-3 порядка больше
Для регистрации малоинтенсивного комбинационного рассеяния света необходимо:
Подавить сигнал рэлеевского рассеяния
Использовать призменные монохроматоры
Охладить образец до низких температур
Физической основой метода динамического рассеяния света является:
Броуновское движения частиц во взвешенном состоянии
Изменение длины волны излучения с течением времени
Взаимной диффузии между частицами
Какова основная цель характеризации материала с помощью дифракции рентгеновского излучения (XRD)?
Для определения кристаллической структуры и межатомного расстояния
Определить кристаллическую структуру и химическое соединение
Для определения кристаллической структуры и морфологии поверхности
Для определения кристаллической структуры и ширины запрещенной зоны
Основа измерений кругового дихроизма в поглощении:
Сумма поглощения света с левой круговой поляризацией и света с правой круговой поляризацией
Разница в поглощении света с левой круговой поляризацией и света с правой круговой поляризацией
Сумма поглощения линейно поляризованного света
Разница в поглощении двух линейно поляризованных лучей
Профиль спектра возбуждения люминесценции, как правило, совпадает с:
Cпектром поглощения исследуемой системы
Существенно отличается от того и другого
Спектром люминесценции исследуемой системы
Основным преимуществом БСОМ является:
Возможность регистрации вторичного излучения с субдифракционным разрешением
Возможность использования мощных, сфокусированных лазерных источников
Возможность получения информации о локальном поглощении света образцом
Рентгеновское излучение от участка объекта, облучаемого электронным лучом, позволяет исследовать:
Элементный состав
Электрическое сопротивление
Плотность вещества
