wayground logo

Free Printable Worksheets

Font size

S
M
L
XL
Worksheets

แบบทดสอบฟิสิกส์สารกึ่งตัวนำ

Total questions: 15

Worksheet time: 8mins

Name
Class
Date
1.

ในการพิจารณาแถบพลังงาน (Energy Band) ของของแข็ง เหตุใดระดับพลังงานที่แยกตัวออกมาจํานวนมากจึงสามารถพิจารณาให้เป็น "แถบต่อเนื่อง" (Quasi-continuous distribution) ได้?

a)

เพราะระยะห่างระหว่างระดับพลังงานในแถบมีค่าประมาณ 10−19 eV ซึ่งน้อยกว่าการเปลี่ยนแปลงพลังงานจลน์ที่เกิดจากการเปลี่ยนความเร็วเพียงเล็กน้อยอย่างมาก

b)

เพราะอิเล็กตรอนมีมวลยังผล (Effective mass) คงที่ตลอดทั้งแถบพลังงาน

c)

เพราะระดับพลังงานในแถบวาเลนซ์และแถบความนำมีการซ้อนทับกันเสมอ

d)

เพราะฟังก์ชันคลื่นของทุกอะตอมในผลึกมีเฟสตรงกันพอดี

2.

จากแผนภาพ E-K diagram ความสัมพันธ์ในข้อใดที่อธิบายลักษณะของ "มวลยังผล" (Effective Mass, m∗) ของอิเล็กตรอนที่บริเวณขอบล่างของแถบความนํา (Conduction band edge) ได้ถูกต้องที่สุด?

a)

m∗ มีค่าเป็นลบเนื่องจากอนุพันธ์อันดับสองของ E เทียบกับ k มีค่าเป็นลบ

b)

m∗ มีค่าเป็นบวกเนื่องจากส่วนโค้งของกราฟมีลักษณะหงาย (อนุพันธ์อันดับสองเป็นบวก)

c)

m∗ มีค่าเท่ากับมวลของอิเล็กตรอนในสูญญากาศเสมอ

d)

m∗ ไม่สามารถหาค่าได้เนื่องจากอิเล็กตรอนถูกยึดเหนี่ยวด้วยพันธะโควาเลน

3.

เงื่อนไขใดที่ทําให้การประมาณแบบโบลต์ซมันน์ (Maxwell-Boltzmann Approximation) มีความคลาดเคลื่อนจากฟังก์ชันเฟอร์มิ-ไดแรคไม่เกิน 5%?

a)

เมื่อระดับพลังงาน E อยู่สูงกว่าระดับเฟอร์มี E F อย่างน้อย 1เคที

b)

เมื่ออุณหภูมิของระบบอยู่ที่ 0 K เท่านั้น

c)

เมื่อระดับพลังงาน E อยู่สูงกว่าระดับเฟอร์มี E F ประมาณ 3kที

d)

เมื่อจำนวนสถานะพลังงาน ก. (E) มีค่าเท่ากับจำนวนอิเล็กตรอนพอดี

4.

ข้อใดอธิบายความแตกต่างเชิงโครงสร้างพลังงานระหว่าง Silicon (Si) และ Gallium Arsenide (GaAs) ตามลักษณะการนําไฟฟ้าได้ถูกต้อง?

a)

Si เป็น Direct Bandgap จึงเหมาะสําหรับการนําไปสร้างอุปกรณ์กําเนิดแสง

b)

GaAs เป็น Indirect Bandgap ทําให้การเปลี่ยนระดับพลังงานต้องมีการเปลี่ยนแปลงโมเมนตัมสูง

c)

GaAs เป็น Direct Bandgap เนื่องจากตําแหน่งต่ําสุดของแถบความนําและสูงสุดของแถบวาเลนซ์ตรงกันที่ k=0

d)

ทั้ง Si และ GaAs มีโครงสร้างแถบพลังงาน

5.

หากระดับเฟอร์มี (EF) ของสารกึ่งตัวนําชนิดเอ็น (N-type) เลื่อนขึ้นไปอยู่เหนือขอบแถบความนํา (Ec) สารนั้นจะมีคุณสมบัติอย่างไร?

a)

ก. กลายเป็นสารกึ่งตัวนําแบบ Degenerate Semiconductor

b)

ข. กลายเป็นสารกึ่งตัวนําบริสุทธิ์ (Intrinsic)

c)

ค. สารจะมีสภาพความต้านทานสูงขึ้นอย่างมาก

d)

ง. อิเล็กตรอนในแถบความนำจะมีค่าเป็นศูนย์

6.

ในสารกึ่งตัวนําชนิดเอ็น (N-type) เมื่ออุณหภูมิเพิ่มสูงขึ้นอย่างต่อเนื่อง (เช่น จาก 300K ไปเป็น 600K) ตําแหน่งของระดับเฟอร์มี (EF) จะมีการเปลี่ยนแปลงอย่างไร?

a)

ก. เลื่อนเข้าใกล้แถบความนํา (Ec) มากขึ้นเรื่อยๆ

b)

ข. อยู่คงที่เนื่องจากถูกกำหนดโดยความหนาแน่นสารเจือ Nd

c)

ค. เลื่อนลงเข้าหาระดับเฟอร์มีอินทรินซิก (Eฟไอ) เนื่องจากผลของพาหะอินทรินซิกเริ่มเด่นชัดกว่าสารเจือ

d)

ง. เลื่อนลงไปต่ำกว่าแถบวาเลนซ์ (Ev)

7.

ในการคํานวณหาความหนาแน่นโฮล (p0) ในสารกึ่งตัวนำซิลิกอนที่อุณหภูมิ T=400 K หากทราบค่า Nv ที่ 300 K เราต้องปรับปรุงค่าอย่างไร?

a)

ใช้ค่าเดิมได้ทันทีเพราะ Nv เป็นค่าคงที่

b)

ปรับค่าโดยการคูณด้วยอัตราส่วน (400/300) 3/2 เนื่องจาก Nv แปรผันตาม T 3/2

c)

ปรับค่าโดยการหารด้วยค่าคงที่โบลต์ซมันน์

d)

ปรับค่าตามความกว้างของ Bandgap ที่เปลี่ยนไป

8.

สารกึ่งตัวนําแบบคอมเพนเซตเตด (Compensated Semiconductor) ที่มีการเจือ Na=10 16 cm−3 และ Nd=3×10 15 cm−3 จะมีลักษณะการนำไฟฟ้าและปริมาณพาหะส่วนมากอย่างไร?

a)

เป็นชนิด N, n0=1.3×10 16 cm−3

b)

เป็นชนิด P, p0=7×10 15 cm−3

c)

เป็นชนิด P, p0=10 16 cm−3

d)

เป็นสารอินทรินซิกเนื่องจากพาหะหักล้างกันหมด

9.

กลไกการกระเจิง (Scattering) แบบใดที่ทําให้ความคล่องตัวของพาหะ (Mobility) มีค่า "ลดลง" เมื่ออุณหภูมิของสารกึ่งตัวนํา "ลดลง" ในย่านอุณหภูมิต่ํา?

a)

Lattice Scattering หรือ Phonon Scattering

b)

Ionized Impurity Scattering เนื่องจากความเร็วเชิงความร้อนของพาหะลดลงทําให้ถูกดึงดูดโดยไอออนสารเจือได้ง่ายขึ้น

c)

การกระเจิงเนื่องจากแรงโน้มถ่วง

d)

ไม่มีการกระเจิงชนิดใดที่ทำให้ความคล่องตัวลดลงเมื่ออุณหภูมิต่ำ

10.

ตามความสัมพันธ์ของไอสไตน์ (Einstein Relation) หากสารกึ่งตัวนํามีความคล่องตัวของอิเล็กตรอน μn =1,000คm2/วี⋅s ที่อุณหภูมิ 300K (เคที/อี=0.0259โวลต์) ค่าสัมประสิทธิ์การแพร่Dn จะมีค่าเท่าใด?

a)

1,000คm2/s

b)

38.6คm2/s

c)

25.9คm2/s

d)

0.0259คm2/s

11.

ในการทดลองปรากฏการณ์ฮอลล์ (Hall Effect) หากวัดแรงดันฮอลล์ได้ค่า VH =−6.25มิลลิโวลต์ สำหรับสารที่มีความกว้าง W และความหนา d ค่าเครื่องหมายลบของแรงดันนี้บ่งบอกถึงสิ่งใด?

a)

พาหะส่วนมากคือโฮล (P-type)

b)

พาหะส่วนมากคืออิเล็กตรอน (N-type)

c)

สารนั้นเป็นฉนวนสมบูรณ์

d)

ทิศทางของสนามแม่เหล็กกลับทิศกับกระแส

12.

กระบวนการรวมตัวของพาหะส่วนเกิน (Excess Carrier Recombination) ในสารกึ่งตัวนําชนิดเอ็น (N-type) ที่มีการฉีดพาหะระดับต่ํา (Low-level injection) อัตราการรวมตัวจะถูกกําหนดโดยค่าใดเป็นหลัก?

a)

อายุขัยของพาหะส่วนมาก (Majority carrier lifetime)

b)

อายุขัยของพาหะส่วนน้อย (Minority carrier lifetime,τ)

c)

อัตราการสร้างพาหะด้วยความร้อน (Thermal generation rate)

d)

ความคล่องตัวของอิเล็กตรอน

13.

หากเกิดพาหะส่วนเกินขึ้นที่ตําแหน่ง x=0 ในสารกึ่งตัวนำชนิดพีที่ไม่มีสนามไฟฟ้าภายนอก (E=0) และอยู่ในสภาวะคงตัว (Steady state) ความหนาแน่นพาหะส่วนเกินจะลดลงตามระยะทาง x ในลักษณะใด?

a)

ลดลงแบบเส้นตรง (Linear decay)

b)

คงที่ตลอดความยาวของสาร

c)

ลดลงแบบเอกซ์โพเนนเชียลตามค่า Diffusion Length (Ln)

d)

เพิ่มขึ้นตามระยะทาง x

14.

แนวคิดของ "Ambipolar Transport" อธิบายพฤติกรรมของพาหะส่วนเกินอย่างไรเมื่อมีการให้สนามไฟฟ้า?

a)

อิเล็กตรอนและโฮลส่วนเกินจะแยกกันเคลื่อนที่ไปคนละทิศทางอย่างอิสระ

b)

อิเล็กตรอนและโฮลส่วนเกินจะเคลื่อนที่ไปด้วยกันด้วยความเร็วและความคล่องตัวยังผลค่าเดียวกันเพื่อรักษาความเป็นกลางทางไฟฟ้า

c)

เฉพาะอิเล็กตรอนเท่านั้นที่เคลื่อนที่ ส่วนโฮลจะอยู่กับที่

d)

พาหะส่วนเกินจะหายไปทันทีที่ได้รับสนามไฟฟ้า

15.

สมการความต่อเนื่อง (Continuity Equation) สําหรับโฮล ∂/∂ =−∂/∂F_p +g_p −τ_p^t_p พจน์ −∂/∂F_p + หมายถึงอะไร?

a)

อัตราการสร้างพาหะใหม่จากแสง

b)

อัตราการรวมตัวของพาหะส่วนน้อย

c)

อัตราการเปลี่ยนแปลงความหนาแน่นกระแสโฮลต่อหนึ่งหน่วยระยะทาง (Net flow of carriers)

d)

การเปลี่ยนแปลงพลังงานศักย์ตามตำแหน่ง