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Mikroskopie und Mikroanalytik WiSe 2025/26: Kapitel 6 CLSM-AFM

Authored by Kai Donnerbauer

Science

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Mikroskopie und Mikroanalytik WiSe 2025/26: Kapitel 6 CLSM-AFM
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1.

MULTIPLE SELECT QUESTION

45 sec • 1 pt

Media Image

Welche Punkte sind im Konfokalmikroskop „gleichzeitig im Fokus“?

Mitte des Probentischs

Objektiv

Mitte der Lochblende

Lichtquelle

Beleuchtungspunkt im Präparat

2.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

In welcher Größenordnung liegt die maximale Auflösung mit Konfokalmikroskopie?

Fast atomare Auflösung

pm

nm

µm

mm

3.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Mit welchem Messverfahren des Rasterkraftmikroskops kann ferromagnetische Phase charakterisiert werden?

Rastertunnelspektroskopie

Magnetkraftmikroskopie

Kelvin-Sonde

Topografie

4.

MULTIPLE SELECT QUESTION

45 sec • 1 pt

Welcher Parameter der Spitze bzw. „Cantilever“ kann im Nichtkontaktmodus des Rasterkraftmikroskops gemessen werden?

Amplitudenänderung

Probenstrom

Resonanzverschiebung

Änderung des Kraftgradients

5.

MULTIPLE SELECT QUESTION

45 sec • 1 pt

Welche Kraft ist für das Funktionsprinzip des Rasterkraftmikroskops wichtig?

Kapillarkräfte

Elektrostatische Kräfte

Van-der-Waals Kräfte

Chemische Kräfte

Magnetostatische Kräfte

6.

MULTIPLE SELECT QUESTION

45 sec • 1 pt

Welche Vorteile bietet das Rasterkraftmikroskop?

Nichtleitfähige Proben können untersucht werden..

Die Charakterisierung von Versetzungen kann durchgeführt werden.

Die Messungen in Flüssigkeiten sind möglich.

Die Proben können groß und schwer sein.

Direkte Abbildung der Oberfläche kann erzeugt werden.

7.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

30 sec • 1 pt

Mit welchem Messverfahren des Rasterkraftmikroskops können lokale elektrochemische Potentialdifferenzen eines Werkstoffs gemessen werden?

Rastertunnelspektroskopie

Magnetkraftmikroskopie

Kelvin-Sonde

Topografie

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