1-100 физ оптика

Зонд микроскоптарындағы зонд пен үлгі беті арасындағы сипаттамалық қашықтық:

• 0,1-10 нм
• 0,1-10 ангстрем
• он шақты микрон
• 0,1-10 пм
• бір-екі микрон

Сканерлеуші зонд микроскопиясының қай әдісі бірнеше ондаған нанометрлердің бірнеше бірліктеріне дейінгі өлшемдері бар жеке магниттік аймақтар мен домендерді көруге мүмкіндік береді?

• магниттік күшті микроскопиясы;
• сканерлеуші туннелді микроскопия
• атомдық-күштік микроскопия
• өрістік- иондық спектроскопия
• магниттік күшті және атомдық-күштік микроскопиясы

Сканерлеуші туннельдік микроскоптың жұмысына ең үлкен қауіп келтіретін:

• акустикалық шу
• атыс шуы
• механикалық тербеліс
• электрлік ақаулар
• электрлік сигналдардың қабаттасуы

Сканерлеуші туннельдік микроскопты пайдаланып, ажырату қабілеттілігі бар құрылымдарды зерттеуге болады

• 0,01 нм
• 10 нм
• 1 нм
• 100 нм
• 0,1 нм

Келесі құрылымдарды сканерлеуші туннельдік микроскоптың көмегімен зерттеуге болады

• металл және жартылайөкізгішті
• металл
• жартылайөкізгішті
• диэлектрикалық
• кез келген

Өткізбейтін денелердің беттерінің рельефін анықтау үшін атомдық күштік микроскоптың иілгіш серіппелі консоліне еркін орнатылған зонд пайдаланылды: кантилеве

• ине
• кантилевер
• өлшегіш
• детектор
• пьезо жетек

Зондты туннельдік микроскопта орналастыруға арналған үш координатты пьезо жетек деп аталады:

• сканер
• кантилевер
• өлшегіш
• ине
• зонд

Өріс электронды микроскопты кім құрастырды?

• Мюллер
• Ленгмюр
• Рорер
• Иджим
• Энштейн

Қандай микроскопты 1936 жылы Мюллер құрастырған?

• өріс электронды микроскопты
• сканерлеуші туннельдік микроскоп
• атомдық күштік микроскоп
• оптикалық микроскоп
• жақын өрісті микроскоп

Өрісті электронды микроскоптың көмегімен рұқсат ету мен үлкейтудің қандай тәртібіне қол жеткізуге болады?

• 1 нм, рет
• 100 нм, рет
• 10 нм, рет
• 1 мкм, рет
• Вариант 5