Search Header Logo

PERTEMUAM 11.TEK.MATERIAL MUTAKHIR c

Authored by DIDIK BERSAMA

Other

University

PERTEMUAM 11.TEK.MATERIAL MUTAKHIR c
AI

AI Actions

Add similar questions

Adjust reading levels

Convert to real-world scenario

Translate activity

More...

    Content View

    Student View

10 questions

Show all answers

1.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

2 mins • 5 pts

Jika Anda ingin mengetahui komposisi unsur di permukaan material (sekitar 1-10 nm kedalaman) dan juga keadaan ikatan kimianya, teknik yang paling tepat adalah:

EDX/EDS

AAS

XPS

TGA

2.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

2 mins • 5 pts

Apa yang diukur oleh Differential Scanning Calorimetry (DSC)?

Perubahan massa material terhadap suhu.

Perbedaan aliran panas antara sampel dan referensi terhadap suhu.

Kekuatan pantulan sinar-X dari permukaan.

Defleksi probe yang memindai permukaan.

3.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

2 mins • 5 pts

Sebuah sampel paduan logam mengalami kegagalan. Untuk menganalisis mode patahan (misalnya, daktil atau rapuh) dan mencari inisiasi retak pada skala mikro, teknik apa yang paling direkomendasikan?

Uji Kekerasan

Uji Impak

SEM

DSC

4.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

2 mins • 5 pts

Jika hasil XRD menunjukkan puncak-puncak yang lebar, hal ini dapat mengindikasikan:

Material bersifat amorf sempurna.

Ukuran kristalit yang besar.

Adanya regangan mikro atau ukuran kristalit yang kecil.

Sampel mengandung banyak pengotor.

5.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

2 mins • 5 pts

Teknik Atomic Force Microscopy (AFM) sangat berguna untuk:

Mengukur konsentrasi elemen jejak dalam larutan.

Menentukan stabilitas termal material polimer.

Memetakan topografi permukaan 3D dengan resolusi nanometer.

Mengidentifikasi fasa kristal dalam bulk material.

6.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

2 mins • 5 pts

Salah satu keterbatasan utama Transmission Electron Microscopy (TEM) adalah:

Tidak dapat memberikan informasi tentang struktur kristal.

Membutuhkan persiapan sampel yang sangat sulit dan tipis.

Hanya dapat digunakan untuk material non-konduktif.

Resolusi yang sangat rendah.

7.

MULTIPLE CHOICE QUESTION

2 mins • 5 pts

Pada analisis EDX/EDS yang terpasang pada SEM, sinyal yang dideteksi untuk identifikasi unsur adalah:

Elektron sekunder

Elektron pantul

Sinar-X karakteristik

Sinar-X terdifraksi

Access all questions and much more by creating a free account

Create resources

Host any resource

Get auto-graded reports

Google

Continue with Google

Email

Continue with Email

Classlink

Continue with Classlink

Clever

Continue with Clever

or continue with

Microsoft

Microsoft

Apple

Apple

Others

Others

Already have an account?