wayground logo

Free Printable Worksheets

Font size

S
M
L
XL
Worksheets

Зондтық микроскопия бойынша тест

Total questions: 96

Worksheet time: 49mins

Name
Class
Date
1.

Зондты микроскоптарда зонд пен үлгі беті арасына тән қашықтық қандай?

a)

0,1-10 нм

b)

0,1-10 ангстрем

c)

ондаған микрон

d)

0,1-10 пм

e)

бірнеше микрон

2.

Сканерлеуші зондтық микроскопия әдістерінің қайсысы жеке магниттік аймақтарды және өлшемдерді бірнеше ондағаннан бірнеше нанометр бірлігіне дейінгі домендерді көруге мүмкіндік береді?

a)

өрістік иондық спектроскопия

b)

магнитті-күштік және атомдық микроскопия

c)

магнитті-күштік микроскопия

d)

сканерлеуші туннельдік микроскопия

e)

атомды күштік микроскопия

3.

Сканерлеуші туннельдік микроскоптың жұмысына ең үлкен қауіп төндіретін фактор қандай?

a)

электрлік кедергілер

b)

электрлік сигналдардың қабаттасуы

c)

акустикалық шу

d)

ағыс шуы

e)

механикалық тербелістер

4.

Сканерлеуші туннельдік микроскоп арқылы құрылымдарды қандай ажыратымдылыққа дейін зерттеуге болады?

a)

1 нм

b)

0,01 нм

c)

10 нм

d)

100 нм

e)

0,1 нм

5.

Сканерлеуші туннельдік микроскоптың көмегімен келесі құрылымдарды зерттеуге болады:

a)

жартылай өткізгіш

b)

металл және жартылай өткізгіш

c)

металл

d)

диэлектрик

e)

кез келген

6.

Өткізбейтін денелердің бет рельефін анықтау үшін атомдық-күштік микроскопта серпімді консольға еркін бекітілетін зонд қалай аталады?

a)

щуп

b)

детектор

c)

кантилевер

d)

ине

e)

пьезожетек

7.

Туннельдік микроскопта зондты позициялау үшін қолданылатын үшкоординаталы пьезожетек қалай аталады?

a)

щуп

b)

ине

c)

зонд

d)

сканер

e)

кантилевер

8.

Өрістік электрондық микроскопты кім құрастырды?

a)

Мюллер

b)

Ленгмор

c)

Рорер

d)

Иджима

e)

Эйнштейн

9.

1936 жылы Мюллер қандай микроскоп құрды?

a)

атомдық-күштік микроскоп

b)

өрістік электрондық микроскоп

c)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

d)

оптикалық микроскоп

e)

жақын өрістік микроскоп

10.

Өрістік электрондық микроскоп арқылы қандай шамадағы ажыратымдылық пен үлкейтуге қол жеткізуге болады?

a)

100 нм, 10² – 10³ рет

b)

10 нм, 10² – 10³ рет

c)

1 нм, 10⁵ – 10⁶ рет

d)

1 мкм, 10² – 10³ рет

e)

10 нм, 10⁵ – 10⁶ рет

11.

Өрістік иондық микроскопты кім ойлап тапты?

a)

Мюллер

b)

Ленгмор

c)

Рорер

d)

Иджима

e)

Эйнштейн

12.

1951 жылы Мюллер қандай микроскопты ойлап тапты?

a)

атомдық-күштік микроскоп

b)

оптикалық микроскоп

c)

жақын өрістік микроскоп

d)

өрістік иондық микроскоп

e)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

13.

Өрістік иондық микроскопта кескін алу үшін қандай газ пайдаланылады?

a)

сутегі

b)

азот

c)

оттегі

d)

аргон

e)

гелий

14.

Қай микроскоп үшін зондпен бет арасындағы қашықтыққа тәуелді туннельдік токтың экспоненциалдық тәуелділігі шешуші маңызға ие?

a)

оптикалық микроскоп

b)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

c)

атомдық-күштік микроскоп

d)

өрістік электрондық микроскоп

e)

жақын өрісті микроскоп

15.

Қай микроскоп үшін молекулалар арасындағы әрекеттесу күштерінің (Ван-дер-Ваальс күштері) қашықтыққа тәуелділігі шешуші мәнге ие?

a)

жақын өрістi микроскоп

b)

өрiстiк нондық микроскоп

c)

атомдық-күштік микроскоп

d)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

e)

оптикалық микроскоп

16.

Қай микроскоп үшін Ван-дер-Ваальс күштері мен қатар магниттік дипольдық күштер де маңызды?

a)

оптикалық микроскоп

b)

магниттік-күштік микроскоп

c)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

d)

жақын ерістi микроскоп

e)

өрiстiк нондық микроскоп

17.

Сканерлеуші туннельдік микроскопта зонд зерттелетін үлгінің бетінен қандай қашықтықта тұрады?

a)

10 нм

b)

5 нм

c)

100 нм

d)

1 нм

e)

0,01 нм

18.

Атомдарды ұштан бетке тасымалдау арқылы жасанды беткі құрылымдарды жасауға болатын микроскоптың түрі?

a)

атомдық-күштік микроскоп

b)

оптикалық микроскоп

c)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

d)

жақын ерістi микроскоп

e)

өрiстiк электрондық микроскоп

19.

Зондты микроскоптардың сканерлеуші элементтері (сканерлері) қандай материал негізінде жасалады?

a)

ферромагнетиктер

b)

пьезоэлектриктер

c)

диэлектриктер

d)

сегнетоэлектриктер

e)

диамагнетиктер

20.

Металл зондпен өткізгіш үлгі арасындағы сыртқы электр өрісінде тар потенциалдық тосқауыл арқылы электрондардың туннельдену құбылысына негізделген жұмыс принципі қай микроскопқа тән?

a)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

b)

жақын ерістi оптикалық микроскоп

c)

магниттік-күштік микроскоп

d)

электрлік-күштік микроскоп

e)

атомдық-күштік микроскоп

21.

Үлгілердің жергілікті магниттік қасиеттерін зерттеу үшін қолданылады:

a)

электрлік-күштік микроскоп

b)

магниттік-күштік микроскоп

c)

жақын өрісті оптикалық микроскоп

d)

атомдық-күштік микроскоп

e)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

22.

Оптикалық тапшыкқа негізделген зондтар қолданылады:

a)

атомдық-күштік микроскопта

b)

сканерлеуші туннельдік микроскопта

c)

жақын өрісті оптикалық микроскопта

d)

магниттік-күштік микроскопта

e)

электрлік-күштік микроскопта

23.

Сканерлеуші зондтық микроскопияда зондты дәл жылжыту үшін қандай қозғалтқыштар қолданылады:

a)

редуктор мен жабдықталған қадамдық қозғалтқыштар

b)

редукторсыз қадамдық қозғалтқыштар

c)

электр қозғалтқыштар

d)

редукторсыз дәл қадамдық қозғалтқыштар

e)

пьезо қозғалтқыштар

24.

СЗМ кескінінде тұрақты көлбеудің пайда болуы немен байланысты:

a)

сыртқы вибрациялармен

b)

үлгінің өз бейсызықтығымен

c)

аппаратура шуларымен

d)

пьезокерамика орын ауыстыруының бейсызықтығымен

e)

зонд–үлгі контактының тұрақсыздығымен

25.

СЗМ кескінінде тұрақты көлбеудің пайда болуы немен байланысты:

a)

аппаратура шуларымен

b)

үлгінің өз бейсызықтығымен

c)

сыртқы вибрациялармен

d)

зонд-үлгі контактының тұрақсыздығымен

e)

зондтың үлгіге қатысты дәл орналастырылмауымен

26.

Қай фильтрация түрінде шумдар кескіннің шеттеріне ығысады?

a)

тұрақты көлбеуді алып тастау

b)

медитативті фильтрация

c)

тұрақты құраушы

d)

Фурье-фильтрация

e)

қатарлық орташа мән бойынша сүзгілеу

27.

Тұрақты құраушыны шығарып тастау әдісімен фильтрация формулаларын көрсетіңіз

a)

Z'_ij = Zij + Z̄

b)

Z'_ij = Z_ij - Z̄

c)

Z'_ij = -Z_ij - Z̄

d)

Z'_ij = Z_ij *(- Z)

e)

Z'_ij=2Z_ij-Z

28.

Зондтың сызық (жол) бойымен қозғалып, кейін кері бағытта қайтуы қалай аталады?

a)

Тігінен жайылу

b)

Жолдық (строчный) жайылу

c)

Көлденең жайылу

d)

Сызықтық жайылу

e)

Кадрлық жайылу

29.

Зондтың бір жолдан екінші жолға өтуі қалай аталады?

a)

Жолдық (строчный) жайылу

b)

Кадрлық жайылу

c)

Тігінен жайылу

d)

Көлденең жайылу

e)

Сызықтық жайылу

30.

СЗМ кескінін компьютер жадында қалай көрсетіледі?

a)

Бір өлшемді элементтер массиві

b)

Сызықтық массив

c)

Екі өлшемді элементтер массиві

d)

Кездейсоқ орналасқан сандар жиынтығы

e)

Екі өлшемді массивтер жиынтығы

31.

СЗМ кескініндегі екі нүктенің арақашықтығы қалай есептеледі?

a)

xᵢ = x₀ · i, yᵢ = y₀ · i

b)

xⱼ = x₀ · i, yⱼ = yⱼ · j

c)

xᵢ = x₀ · i, yⱼ = yⱼ · j

d)

xⱼ = x₀ + i, yⱼ = yⱼ + j

e)

xⱼ = x₀ + i, yⱼ = yⱼ · j

32.

Нанообъектілердің өлшемдері қандай?

a)

1*10⁻⁶ – 100*10⁻⁶

b)

1*10⁻⁹ – 100*10⁻⁹

c)

1*10⁻⁸ – 100*10⁻⁸

d)

1*10⁻³ – 100*10³

e)

1*10⁻4 – 2*104

33.

Пропорционалды реттеу қолданатын виброоқшаулау жүйелері қалай аталады?

a)

Жартылай пассивті

b)

Пассивті

c)

Активті

d)

Пропорционалды

e)

Сөндіру жүйелері

34.

Виброоқшаулау жүйесі активті деп аталады, егер

a)

Тербеліс жиілігі мардымсыз төмендейді

b)

Датчик сигналы кері байланыс жүйесіне түсіп, қарсы фазаға пьезоэлектрлік тіректерге беріледі

c)

Еріксіз тербелістер амплитудасы мен меншікті тербелістер айырмасы артқанда тез төмендейді

d)

Платформаға әсер ететін үдеу сигналын арттырады

e)

Тербелістер айырмасы тез артады

35.

СЗМ-ді акустикалық шудан қорғау тәсілдері қандай?

a)

Тек СЗМ басын вакуумдау

b)

Тек СЗМ басын қорғаныш қақпағының астына орналастыру

c)

Микроскопты термостатталған платформаға орналастыру

d)

СЗМ басын вакуумдау және қорғаныш қақпағының астына орналастыру

e)

СЗМ қондырғысын толық вакуумдау

36.

СЗМ-ге сыртқы механикалық әсерлер қауіпті, өйткені:

a)

Микроскоп элементтерінің абсолюттік созылуын тудырады

b)

Термоүлесімді деформацияларға әкеледі

c)

Меншікті резонанстық жиілікпен сәйкес келгенде шумдар туындайды

d)

Зонд пен үлгінің дәл жылжу процесіне әсер етеді

e)

Бұл тұжырым қате

37.

Температура 1° өзгергенде ұзындығы 10 см микроскоп элементінің абсолюттік созылуы қанша болады?

a)

1 мм

b)

1 см

c)

1 мкм

d)

0,1 см

e)

0,1 мм

38.

Температура өзгерісінің СЗМ өлшеу бастарына әсерін азайту үшін не қолданылады?

a)

Термореттеу

b)

Термостаттау

c)

Вакуумдау

d)

Пропорционалды реттеу

e)

Акселерирлеу

39.

СЗМ өлшеу бастарының термокомпенсациялық элементтері мына шарт орындалатындай таңдалады: ΔL – жүйенің абсолюттік созылуы, l_i – элементтің созылуы. Қайсысы дұрыс?

a)

ΔL = ∑l_i ⇒ 10

b)

ΔL = ∑l_i' ⇒ 0

c)

ΔL = ∑l_i' ⇒ 1

d)

ΔL = ∑l_i' ⇒ 2

e)

ΔL = ∑l_i' ⇒ 0.5

40.

СЗМ-де зонд орнының өзгеруі қалай тіркеледі?

a)

Механотронмен

b)

Магнит өрістері арқылы

c)

Лазер арқылы

d)

Электр өрістері арқылы

e)

Индуктивтік катушка арқылы

41.

Қай микроскоптың жұмыс істеу принципінің негізінде зонд пен үлгі арасындағы күштік әсерлесу жатыр?

a)

атомдық-күштік

b)

оптикалық

c)

туннельдік

d)

зондтық

e)

сканерлеуші

42.

Атомдық-күштік микроскоп қай жылы ойлап табылды?

a)

1945 ж.

b)

1975 ж.

c)

1986 ж.

d)

1999 ж.

e)

2006 ж.

43.

Атомдық-күштік микроскоптың зонды үлкен қашықтықта (> 1 А°) үлгінің жағынан қандай әсерге ұшырайды?

a)

итеру

b)

тыныш күйде болуы

c)

тартылу

d)

латералды күштер бағытымен қозғалу

e)

үлгінің тығыздығына байланысты

44.

Атомдық-күштік микроскоптың зонды кіші қашықтықта (< 1 А°) үлгінің жағынан қандай әсерге ұшырайды?

a)

тартылу

b)

итеру

c)

тыныш күйде болуы

d)

латералды күштер бағытымен қозғалу

e)

үлгінің тығыздығына байланысты

45.

АКМ-дегі кері байланыс жүйесі (КБЖ) не қамтамасыз етеді?

a)

фототоктың тұрақты шамасын I_z = const

b)

сигналды тіркеуді

c)

фототок өзгерісінің тұрақты шамасын ΔI_z = const

d)

консоль иілуінің өзгерісін тіркеуді

e)

лазерді басқаруды

46.

АКМ-де консоль иілуін тұрақты ұстап тұратын пьезоэлектрлік атқарушы элементті не басқарады?

a)

кері байланыс (OC)

b)

лазер

c)

фотодиод

d)

тікелей байланыс

e)

теріс кері байланыс

47.

АКМ-нің ажыратымдылығы немен анықталады?

a)

консольдың қаттылығымен

b)

дөңгектену радиусымен және тіркеу жүйесінің сезімталдығымен

c)

зерттелетін материалмен

d)

фотодиодтың сезімталдығымен

e)

лазер сәулесінің қарқындылығымен

48.

Қазіргі кезде АКМ арқылы қандай ажыратымдылыққа қол жеткізілді?

a)

1 ангстрем

b)

1 нанометр

c)

атомдық

d)

1 молекула

e)

0,001 мм

49.

АКМ-де қолданылатын серпімді консольдар әдетте қандай материалдан жасалады?

a)

SiN₂

b)

Cl₂O₄

c)

Si₂O₃

d)

Cu₂O₃

e)

SiO₂

50.

АКМ-нің туннельдік микроскопқа қарағанда негізгі артықшылығы

a)

өткізгіш материалдарды сканерлеу мүмкіндігі

b)

өткізбейтін және органикалық материалдарды сканерлеу мүмкіндігі

c)

жартылай өткізгіштерді сканерлеу мүмкіндігі

d)

жоғары кеңістіктік ажыратымдылық

e)

жоғары сканерлеу жылдамдығы

51.

Контактілі АКМ әдістемесінің негізгі кемшілігі

a)

кантилевер материалының күрделі таңдалуы

b)

жұмсақ, органикалық материалдарды сканерлеу мүмкін еместігі

c)

қатты, бейорганикалық материалдарды сканерлеу мүмкін еместігі

d)

лайықты зондты дайындаудың күрделілігі

e)

жұмсақ, органикалық материалдарды сканерлеу мүмкіндігі

52.

Зондтық микроскоптарда зонд–үлгі арасындағы жұмыс қашықтығын бақылау және зондты үлгі беті бойымен өте жоғары дәлдіктен (ангстремдік бөлшектер деңгейінде) жылжыту қажет. Бұл мәселе қандай арнайы манипуляторлар көмегімен шешіледі?

a)

зондтық датчиктер

b)

сканерлер

c)

атқарушы элемент

d)

қадамдық электрқозғалтқыштар

e)

қадамдық пьезоқозғалтқыштар

53.

Зондтық спектроскопия сканеріне қойылатын талаптар (артық нұсқаны көрсетіңіз):

a)

дрейфтердің болмауы

b)

пьезокерамиканың сызықсыздығы

c)

позициялаудың жылулық тұрақтылығы

d)

Жеткілікті жылдам әрекет етуі

e)

Параметрлердің ұзақ мерзімді тұрақтылығы

54.

Пьезокерамиканың кемшіліктеріне не жатады? (артық нұсқаны көрсетіңіз)

a)

крип

b)

дреиф

c)

гистерезис

d)

деформациясының аздығы

e)

сызықсыздық

55.

Қандай микроскопия түрлері сканерлеуші зондтық микроскопияға жатады?

a)

туннельдік микроскопия

b)

конфокалды лазерлік микроскопия

c)

шағылысқан жарық микроскопиясы

d)

рамандық микроскопия

e)

Атомдық кұштік микроскопия

56.

СЗМ спектроскопиясында пьезоэлементтер кеңінен қолданылады. Егер оған кернеу берілсе, не болады?

a)

өткізгіштігі артады

b)

оның өлшемдері өзгереді

c)

ештеңе болмайды

d)

сыйымдылығы азаяды

e)

буынатын кетеді

57.

Сканерлеуші зондтық микроскопияда пьезоэлементтердің қандай қасиеті пайдаланылады?

a)

қолданылған потенциал әсерінен өлшемдерінің өзгеруі

b)

өте төмен температураның әсерінен өлшемдерінің өзгеруі

c)

басқарушы кернеудің әсерінен өлшемдерінің өзгеруі

d)

сәулелену әсерінен өлшемдерінің өзгеруі

e)

Қолданылмаған

58.

Зонд пен үлгіні дәл жылжыту үшін қолданылмайтын құрылғыны көрсетіңіз:

a)

рефрактометрлер

b)

механикалық редуктор

c)

қадамдық электрқозғалтқыш

d)

қадамдық пьезоқозғалтқыш

e)

Иінтіректі құрылғы

59.

Қадамдық пьезоқозғалтқыштарда қолданылатын басқарушы кернеудің пішінін көрсетіңіз:

a)

тікбұрышты импульстер

b)

ара тісті (пилообразное)

c)

толқын тәрізді

d)

экспоненциалды

e)

кернеу қолданылмайды

60.

Зонд пен үлгіні прецизионды жылжыту үшін ешқашан қолданылмайтын құрылғылар:

a)

механикалық редуктор

b)

қадамдық электрқозғалтқыш

c)

қадамдық пьезоқозғалтқыш

d)

жай электрқозғалтқыштар

e)

иінтіректі құрылғы

61.

Иінтіректі құрылғыларда орын ауыстырудың редукциясы келесі себептен жүзеге асады:

a)

басқарушы кернеудің өзгеруі

b)

басқарушы токтың өзгеруі

c)

иіндердің ұзындықтарының бірдей болуы

d)

иіндердің массаларының тең болуы

e)

иіндердің ұзындықтарының айырмашылығы

62.

Серпімді редукторларда зонд пен үлгінің прецизионды орын ауыстыруы келесіге негізделеді:

a)

екі тізбектей қосылған элементтердің қатандылық коэффициенттерінің айырмашылығы

b)

тізбектей қосылған екі элемент арасындағы басқарушы кернеудің өзгеруі

c)

тізбектей қосылған элементтердің массаларының айырмашылығы

d)

тізбектей қосылған элементтердің массаларының бірдейлігі

e)

екі элементтің қатандылық коэффициенттерінің теңдігі

63.

d=0.1 мм қадамды бұрандамен біріктірілген қадамдық электрқозғалтқышта зонд пен үлгінің жақындасу шамасы:

a)

10 мм

b)

0,25–1 см

c)

0,25–1 мм

d)

0,25–1 мкм

e)

0,25 мм

64.

Интіректі құрылғылар үшін прецизионды орын ауыстыру формуласы мына түрде болады:

a)

R = L*l

b)

R = exp(L/l)

c)

R = K/k

d)

R = L/l

e)

R = K*k

65.

Серпімді редукторларда орын ауыстыру редукциясы мына түрде анықталады:

a)

R = K/k

b)

R = L/l

c)

R = L*l

d)

R = exp(L/l)

e)

R=K*k

66.

СЗМ кадры қандай бейне түрінде визуализацияланады?

a)

1D

b)

2D

c)

3D

d)

5D

e)

7D

67.

Зондтық микроскоп арқылы алынған ақпарат мына түрде сақталады:

a)

СЗМ бейнесі

b)

СЗМ модулі

c)

СЗМ кадры

d)

СЗМ жолы

e)

видео-СЗМ

68.

Квадрат матрица түріндегі СЗМ кадрларының өлшемі:

a)

5n5^n

b)

2n2^n

c)

3n−13^n-1

d)

4n4^n

e)

3n3^n

69.

СЗМ бейнелеріндегі мүмкін болатын бұрмаланулар:

a)

аппараттарға шуы

b)

тұрақты көлбеу

c)

зонд-үлгі контактісінің тұрақсыздығы

d)

қоршаған ортаның шуылары

e)

пайдалы сигнал

70.

Суретті өңдеудің сызықсыз әдісін көрсетіңіз

a)

жолдар бойынша ортақтау

b)

тұрақты еңістікті азайту

c)

медиандық сүзгілеу

d)

Фурье-сүзгілеу

e)

тұрақты құрамдасты азайту

71.

Жұмыс терезесі медиандық сүзгілеу әдісінде неден тұрады?

a)

2n x n нүкте

b)

n x n нүкте

c)

3n x 2n нүкте

d)

n нүкте

e)

n^2 нүкте

72.

СЗМ бейнесін түзету әдісі болып табылатын спектралдық сүзгілеу басқаша қалай аталады?

a)

ішнара сүзгілеу

b)

Фурье-сүзгілеу

c)

медиандық сүзгілеу

d)

шуды сүзгілеу

e)

орташа сүзгілеу

73.

Қай микроскоптың жұмыс принципінің негізінде зонд пен беттің арасындағы күштік әрекет жатыр?

a)

сканерлеуші туннельдік микроскоп

b)

оптикалық микроскоп

c)

атомдық-күштік микроскоп

d)

электр-күштік микроскоп

e)

магнитті-күштік микроскоп

74.

АКМ-де зондтық датчиктерді жасау үшін қандай пластиналар қолданылады?

a)

мыс

b)

алмаз

c)

кварц

d)

кристалл кремний

e)

графит

75.

Кремний бағаншасынан инелерді (зондтарды) қалыптастыру үшін қандай әдіс қолданылады?

a)

электролиттік өңдеу

b)

химиялық өңдеу

c)

термиялық күйдіру

d)

электрохимиялық өңдеу

e)

плазмалық өңдеу

76.

Қазіргі АКМ зондтарының ұшының денетектену радиусы қандай?

a)

0,1–1 нм

b)

500–1000 нм

c)

1–50 нм

d)

100–150 нм

e)

150–300 мкм

77.

АКМ-нің СТМ-ге қарағанда басты артықшылықтары:

a)

тек ток өткізетін беттерді зерттей алады

b)

магниттік қасиеті бар беттерді зерттей алады

c)

кез келген бетті зерттей алады

d)

тек жартылай өткізгіштерді зерттей алады

e)

тек диэлектриктерді зерттей алады

78.

МКМ-де инеге (зондаға) әсер ететін күш қандай қатынаспен анықталады?

a)

F = m₀ – H

b)

F = m₀H

c)

F = m₀ + gradH

d)

F = gradH

e)

F = m₀gradH

79.

Пьезоэффект құбылысы нені білдіреді?

a)

электрэнергиясын механикалық энергияға түрлендіру

b)

электрэнергиясын химиялық энергияға түрлендіру

c)

химиялық энергияны механикалық энергияға түрлендіру

d)

химиялық энергияны электр энергиясына түрлендіру

e)

электр энергиясын жарық сигналына түрлендіру

80.

Пьезокерамиканың кемшілігі (артық нұсқаны көрсетіңіз):

a)

Сызықсыздық

b)

Инерциялық тік

c)

Гистерезис

d)

Прецизиондылық

e)

крип

81.

Туннельдік және атомдық-күштік микроскопия қай топқа жатады:

a)

Рентгендік микроскопия

b)

Электрондық микроскопия

c)

Оптикалық микроскопия

d)

Сканерлеуші зондтық микроскопия

e)

Мэссбауэрлік

82.

Туннельдік микроскопия қандай микроскопия түріне жатады?

a)

Рентгендік микроскопия

b)

Оптикалық микроскопия

c)

Мёссбауэрлік

d)

Сканерлеуші зондтық микроскопия

e)

электрондық микроскопия

83.

Атомдық-күштік микроскопия қай топқа жатады:

a)

Рентгендік микроскопия

b)

Электрондық микроскопия

c)

Оптикалық микроскопия

d)

Сканерлеуші зондтық микроскопия

e)

Мессбауэрлік

84.

Туннельдік микроскоптың кемшілігі:

a)

Бейорганикалық үлгілерді зерттеу мүмкін еместігі

b)

Жоғары ажыратымдылық

c)

Жоғары үлкейту

d)

Жоғары сезімталдық

e)

Тек ток өткізетін үлгілерді зерттеу мүмкіндіктері

85.

Электрэнергиясын механикалық энергияға және керісінше түрлендіру қалай аталады?

a)

Жылуэффект

b)

Пьезоэффект

c)

Сегнетоэффект

d)

Фотоэффект

e)

Лагранж эффектісі

86.

Зондпен үлгіні прецизионды жылжыту үшін қолданылмайтындар:

a)

Механикалық редуктор

b)

Қарапайым электрқозғалтқыштар

c)

Қадамдық пьезоқозғалтқыш

d)

Қадамдық электрқозғалтқыш

87.

СЗМ бейнесінде тұрақты көлбеуліктің пайда болуы неденболады?

a)

пьезокерамиканың орын ауыстыру сызықсыздығы

b)

үлгінің сызықсыздығы

c)

зондтың үлгіге қатысты дәл орналастырмау

d)

аппаратура шуы

e)

зонд–үлгі контактының тұрақсыздығы

88.

Атомдық-күштік микроскоптың серіппелі консольында еркін бекітілген зонд қалай аталады?

a)

ине

b)

кантилевер

c)

щуп

d)

детектор

e)

пьезоқозғалтқыш

89.

Туннельдік микроскопта зондты позициялау үшін үш координатты пьезоқозғалтқыш қалай аталады:

a)

сканер

b)

щуп

c)

кантилевер

d)

ине

e)

зонд

90.

Сканирлеуші туннельдік микроскопта зонд зерттелетін үлгінің бетінен қандай қашықтықта болуы тиіс?

a)

10 нм

b)

5 нм

c)

1 нм

d)

100 нм

e)

0,01 нм

91.

Қай микроскоп арқылы атомдарды ұшынан бетіне тасу арқылы жасанды бет құрылымдарын жасауға болады?

a)

жақын алаңдық микроскоп

b)

атомдық-күштік микроскоп

c)

оптикалық микроскоп

d)

сканирлеуші туннельдік микроскоп

e)

өрістік электрондық микроскоп

92.

Қоршаған ортаның қандай макроскопиялық сипаттамалары универсалды өзара әрекеттесуді анықтайды:

a)

диэлектрлік өткізгіштік

b)

диполдық момент және сыну көрсеткіші

c)

диэлектрлік өткізгіштік, диполдық момент және сыну көрсеткіші

d)

сыну көрсеткіші

e)

диэлектрлік өткізгіштік және сыну көрсеткіші

93.

Сутек байланыстарының және заряд тасымалдайтын комплекс құруының қалыптасуы қай топқа жатады:

a)

универсалды өзара әрекеттесулер

b)

бірегей өзара әрекеттесулер

c)

арнайы өзара әрекеттесулер

d)

молекулалық өзара әрекеттесулер

e)

стационарлық өзара әрекеттесулер

94.

Өзара әрекеттесетін молекулаларды аналитикалық сипаттау үшін қандай күшті білу қажет?

a)

молекулалар арасындағы байланыс

b)

ядроаралық байланыс

c)

атомаралық байланыс

d)

электрондар арасындағы байланыс

e)

алмасу өзара әрекеттесуі

95.

Ерітілген зат молекулаларымен тұрақты μ₁ және μ₂ дипольдік моменті бар ерігіш молекулалары арасындағы диполь-диполь өзара әрекеттесу қалай аталады, бұл олардың энергиясын минималдық ету үшін ориентацияланады:

a)

диполь-ориентациялық өзара әрекеттесу

b)

дисперсиялық өзара әрекеттесу

c)

ориентациялық өзара әрекеттесу

d)

индукциялық-ориентациялық өзара әрекеттесу

e)

индукциялық өзара әрекеттесу

96.

Дисперсиялық өзара әрекеттесулер теориясын кім әзірледі:

a)

Лоренц

b)

Максвелл

c)

Кеез

d)

Лондон

e)

Онзагер

Similar Resources on Wayground

Физика пәні бойынша сұрақтар

94 questions

Физика пәні бойынша сұрақтар

quiz

Worksheet

•

University