WorksheetsЛекция 9: Электронная микроскопия (СЭМ и ПЭМ)
Total questions: 13
Worksheet time: 7mins
Что является основным преимуществом электронной микроскопии перед оптической?
Возможность видеть объекты в цвете.
Значительно более высокая разрешающая способность из-за малой длины волны электронов.
Простота подготовки образцов.
Возможность работы с живыми клетками в воде.
В какой среде должна находиться внутренняя часть электронного микроскопа во время работы?
В инертном газе (аргоне).
В дистиллированной воде.
В глубоком вакууме.
В атмосферном воздухе.
Какие линзы используются в электронных микроскопах для фокусировки пучка?
Стеклянные двояковыпуклые.
Кварцевые.
Электромагнитные (магнитные катушки).
Зеркальные.
В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) изображение формируется за счет:
Прохождения электронов сквозь образец.
Сбора сигналов от электронов, выбитых с поверхности или отраженных от нее.
Нагрева образца до свечения.
Измерения силы трения иглы о поверхность.
Вторичные электроны (SE) в методе СЭМ в основном несут информацию о:
Химическом составе (атомном номере).
Топографии (рельефе) поверхности.
Кристаллической решетке внутри образца.
Магнитном моменте атомов.
Отраженные (обратно рассеянные) электроны (BSE) позволяют различать:
Области с разным средним атомным номером (Z-контраст).
Живые и мертвые клетки.
Только прозрачные и непрозрачные объекты.
Температуру разных участков образца.
Для чего на непроводящие образцы (например, пластик или биологические ткани) напыляют тонкий слой золота или углерода перед СЭМ?
Чтобы образец стал красивее.
Чтобы увеличить его массу.
Для отвода электрического заряда и предотвращения накопления статического электричества.
Чтобы остановить химические реакции.
Основной принцип просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) заключается в:
Отражении пучка от поверхности под углом 90°.
Прохождении пучка электронов сквозь очень тонкий слой образца.
Измерении времени пролета электронов.
Использовании лазерного луча для подсветки.
Какова типичная толщина образца для стандартных исследований методом ПЭМ?
1–2 сантиметра.
0,5 миллиметра.
Менее 100 нанометров.
10 микрометров.
Какое устройство в электронном микроскопе служит источником электронов?
Сцинтиллятор.
Электронная пушка (катод).
Магнитная ловушка.
Фотомножитель.
Что такое дифракция электронов в ПЭМ?
Поглощение электронов образцом.
Рассеяние электронов на кристаллической решетке, позволяющее изучать структуру кристалла.
Превращение электронов в фотоны.
Случайное столкновение электронов друг с другом.
Разрешающая способность ПЭМ по сравнению с СЭМ обычно:
В 10 раз ниже.
Одинакова.
Существенно выше (вплоть до атомного разрешения).
Зависит только от влажности воздуха.
Какое дополнительное исследование часто проводят внутри электронного микроскопа для определения химического состава (элементного анализа)?
Титрование.
Энергодисперсионный рентгеновский анализ (EDS/EDX).
Взвешивание.
Измерение pH.
