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WorksheetsFundamentos Manufactura Esbelta - examen 1
Total questions: 17
Worksheet time: 17mins
Esta carta de control sirve para controlar y analizar un proceso que tiene como característica que se usan que se mide con valores continuos que pueden ser como longitud o peso, etc; .
Gráfica X
Gráfica P
Gráfica X-R
Gráfica u
Esta gráfico de control se utilizan para controlar y analizar un proceso de los defectos de un producto.
Gráfica X
Gráfica U
Gráfica PN
Gráfica X-R
Esta gráfica de control se utilizan cuando las características de calidad se representan por el número de unidades defectuosas.
Gráfica X
Gráfica U
Gráfica X-R
Gráfica P
Esta gráfica de control se utiliza cuando los datos de un proceso se registran durante intervalos largos o subgrupos donde los datos no son efectivos, entonces se grafica cada dato individualmente y esa gráfica como tal puede utilizarse como gráfica de control.
Gráfica X
Gráfica U
Gráfica X-R
Gráfica P
La representación de la ecuación mostrada se puede interpretar como:
Limite superior - media
Limite central - Rango
Limite central - Media
Limite superior - Rango
En la gráfico mostrado que tipo de comportamiento tiene la frecuencia.
Periodicidad
Acrecimiento al límite central
Racha
Tendencia
Cuantos puntos están fuera de control, considerando que hay presente un acercamiento a los límites de cotrol.
1
2
3
4
¿Qué representa sigma w en la ecuación?
Variación de un subgrupo
Variación entre subgrupos
Varianza
desviación estándar
¿En que subgrupo es mayor la frecuencia acumulada?
subgrupo 4
subgrupo 4.5
subgrupo 5
subgrupo 5.5
Elija la mejor descripción del gráfico de control
El proceso esta centrado.
En el proceso existe 1 punto que esta afuera del limite de control.
El proceso esta centrado, pero existe un acrecimiento en el limite superior.
El proceso no esta centrado, pero existe un acrecimiento en el limite superior.
Elija la mejor descripción, según sus índices de capacidad
Es más probable que el proceso produzca unidades defectuosas en el límite de especificación inferior.
Es más probable que el proceso produzca unidades defectuosas en el límite de especificación superior.
El proceso esta centrado, pero es más probable que el proceso produzca unidades defectuosas en el límite de especificación inferior.
El proceso esta centrado.
Indicador de la capacidad potencial del proceso que resulta de dividir el ancho de las especificaciones (variación tolerada) entre la amplitud de la variación natural del proceso.
CPK
CP
CR
CPS
Indicador de la capacidad real de un proceso que se puede ver como un ajuste del índice Cp para tomar en cuenta el centrado del proceso.
CPK
CPU
CPL
PPK
Indicador del desempeño potencial del proceso, que se calcula en forma similar al índice Cp pero usando la desviación estándar de largo plazo.
CPI
CPK
PP
PPK
AMFE o también denominado AMEF son las siglas de Análisis Modal de fallos y efectos) y se define como un conjunto de directrices, un método y una forma de identificar problemas potenciales (errores) que se pueden producir en los procesos
Verdadero
Falso
El AMEF, entra en el diseño y desarrollo de productos. según APQP
Verdadero
Falso
¿Cuál NRP hay que realizar primero?
Defectos de acoplamiento
Desacoplamiento de chapas
Falta de capacitación de soldadores
Desacoplamiento de chapas y defectos de acoplamiento
