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Fundamentos Manufactura Esbelta - examen 1

Total questions: 17

Worksheet time: 17mins

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1.

Esta carta de control sirve para controlar y analizar un proceso que tiene como característica que se usan que se mide con valores continuos que pueden ser como longitud o peso, etc; .

a)

Gráfica X

b)

Gráfica P

c)

Gráfica X-R

d)

Gráfica u

2.

Esta gráfico de control se utilizan para controlar y analizar un proceso de los defectos de un producto.

a)

Gráfica X

b)

Gráfica U

c)

Gráfica PN

d)

Gráfica X-R

3.

Esta gráfica de control se utilizan cuando las características de calidad se representan por el número de unidades defectuosas.

a)

Gráfica X

b)

Gráfica U

c)

Gráfica X-R

d)

Gráfica P

4.

Esta gráfica de control se utiliza cuando los datos de un proceso se registran durante  intervalos largos o subgrupos donde los datos no son efectivos, entonces se  grafica cada dato individualmente y esa gráfica como tal puede utilizarse como  gráfica de control.

a)

Gráfica X

b)

Gráfica U

c)

Gráfica X-R

d)

Gráfica P

5.

La representación de la ecuación mostrada se puede interpretar como:

a)

Limite superior - media

b)

Limite central - Rango

c)

Limite central - Media

d)

Limite superior - Rango

6.

En la gráfico mostrado que tipo de comportamiento tiene la frecuencia.

a)

Periodicidad

b)

Acrecimiento al límite central

c)

Racha

d)

Tendencia

7.

Cuantos puntos están fuera de control, considerando que hay presente un acercamiento a los límites de cotrol.

a)

1

b)

2

c)

3

d)

4

8.

¿Qué representa sigma w en la ecuación?

a)

Variación de un subgrupo

b)

Variación entre subgrupos

c)

Varianza

d)

desviación estándar

9.

¿En que subgrupo es mayor la frecuencia acumulada?

a)

subgrupo 4

b)

subgrupo 4.5

c)

subgrupo 5

d)

subgrupo 5.5

10.

Elija la mejor descripción del gráfico de control

a)

El proceso esta centrado.

b)

En el proceso existe 1 punto que esta afuera del limite de control.

c)

El proceso esta centrado, pero existe un acrecimiento en el limite superior.

d)

El proceso no esta centrado, pero existe un acrecimiento en el limite superior.

11.

Elija la mejor descripción, según sus índices de capacidad

a)

Es más probable que el proceso produzca unidades defectuosas en el límite de especificación inferior.

b)

Es más probable que el proceso produzca unidades defectuosas en el límite de especificación superior.

c)

El proceso esta centrado, pero es más probable que el proceso produzca unidades defectuosas en el límite de especificación inferior.

d)

El proceso esta centrado.

12.

Indicador de la capacidad potencial del proceso que resulta de dividir el ancho de las especificaciones (variación tolerada) entre la amplitud de la variación natural del proceso.

a)

CPK

b)

CP

c)

CR

d)

CPS

13.

Indicador de la capacidad real de un proceso que se puede ver como un ajuste del índice Cp para tomar en cuenta el centrado del proceso.

a)

CPK

b)

CPU

c)

CPL

d)

PPK

14.

Indicador del desempeño potencial del proceso, que se calcula en forma similar al índice Cp pero usando la desviación estándar de largo plazo.

a)

CPI

b)

CPK

c)

PP

d)

PPK

15.

AMFE o también denominado AMEF son las siglas de Análisis Modal de fallos y efectos) y se define como un conjunto de directrices, un método y una forma de identificar problemas potenciales (errores) que se pueden producir en los procesos

a)

Verdadero

b)

Falso

16.

El AMEF, entra en el diseño y desarrollo de productos. según APQP

a)

Verdadero

b)

Falso

17.

¿Cuál NRP hay que realizar primero?

a)

Defectos de acoplamiento

b)

Desacoplamiento de chapas

c)

Falta de capacitación de soldadores

d)

Desacoplamiento de chapas y defectos de acoplamiento