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WorksheetsEvaluación SEM-26
Total questions: 30
Worksheet time: 13mins
¿Porqué usamos electrones en el MEB?
Por su tamaño
Porque su longitud de onda es muy grande
Porque su longitud de onda es pequeña
Por como interactua con la superficie de las muestras
En el MEB podemos observar muestras líquidas
Verdadero
Si un gel se liofiliza se puede observar en el MEB
Verdadero
Falso
Una muestra metálica debemos recubrirla con carbón para ser observada en el MEB
Verdadero
Falso
El MEB se utiliza en
Control de calidad en areas como alimentos, farmacia y automotriz
Aduanas, Minería, Academia
Análisis de fallas, estudio de minerales así como estudio de suelos
Todas las anteriores
¿Cuántos tipos de cañones existen?
1
3
2
4
El MEB forma su imagen por medio de un patrón
De difracción
De imágenes en X y Y
De barrido en X, Y y Z
De barrido en X y Y
El Spot Size es
El tamaño de señal que llega al detector.
El tamaño de la apertura objetiva en el cañón
El tamaño de haz con el cual se barre la muestra
El barrido del haz en X y Y sobre de la muestra
Es una dispersión Inelástica
Electrones Retrodispersados
Electrones Auger
Luz Visible
Electrones transmitidos
¿Cuántos tipos de filamentos existen en microscopía electrónica?
2
3
4
1
Es una dispersión elástica
Electrones Secundarios
Rayos X característicos
Electrones retrodispersados
Todas las opciones
De que depende la penetración del haz de electrones
De la intensidad de los electrones y la divisibilidad de la muestra
Del espesor de la muestra y la corriente que se le aplica
Del voltaje de aceleración y la densidad del material
De los rayos X que interactúan con la muestra
La primer lente de un MEB es
La condensadora
Virtuosa
La Objetiva
Virtual
Nombre del detector de electrones secundarios y que requiere para generar una imagen
Everthart Thornley y aplicar un potencial de 20 kV
EverGreen Thorn y trabajar con un potencial de 10 kV
Evergreen Thorn, malla de faraday 10 kV trabajar con un potencial de 20kV
Everthart Thornley y aplicar un potencial de 10 kV
Cuantos tipos de detectores de electrones retrodispersados existen
1
3
4
2
Para que el SEM nos de una imagen topográfica exacta de la superficie debemos de trabajar
Spot Size grande y tiempos cortos de barrido
Spot Size pequeño y tiempos cortos de barrido
Spote Size pequeño y tiempos largos de barrido
Spot Size grande y tiempos largos de barrido
Las partes del SEM son: Cámara, Lente, Apertura de diafragma, Detectores, Pistola de iluminación, Muestra
Verdadero
Falso
El sistema de vacío instalado consta de: una bomba rotatoria, una bomba turbo molecular y una bomba iónica; es para trabajar con un filamento de
W
LaB6
W con punta de Zr
CeB8
El MEB nunca formara una imagen
Real
Virtual
Tridimensional
Bidimencional
La amplificación del MEB se obtiene de
Realizar barridos en X y Y
Disminuir la distancia en Z
Disminuyendo la distancia de trabajo (WD)
Disminuyendo el área de barrido
Para enfriar se hace pasar una corriente por un circuito compuesto de materiales diferentes, cuyas uniones están a la misma temperatura
Efecto Comptom
Efecto Peltier
Efecto Tyndall
Efecto Peeling
Las aberraciones que competen a la microscopía electrónica son:
Cromática y son 2
Monocromática y son 7
Cromáticas y son astigmatismo, axial, lateral, curvatura de campo
Monocromáticas y son curvatura de campo, coma, esferica, astigmatismo y distorsión
¿Porqué las muestras no conductoras causan problemas?
Artefactos de carga
Desplazamiento de la imagen
Bajo contraste
Desviación del haz
Todas las anteriores
Las señales se generan por la interacción del haz de electrones con la muestra por medio de:
Generación de señales dispersas
Dispersiones elásticas e inelásticas
Dispersiones estáticas y dinámicas
Dispersiones de electrones dinámicos con la muestra estática
Debido a los defectos de formación de una imagen por microscopía electrónica originados por las corrientes aplicadas, geometría y/ la forma física de las lentes generamos:
Defectos
Astigmatismo
Aberraciones
Desviaciones
Obtener defectos en obleas semiconductoras, imágenes de tejidos e imágenes volumétricas son características de:
Un microscopio electrónico de transmisión
Un microscopio electrónico de emisión de campo
Un microscopio de barrido
Un microscopio electrónico multi beam
Cuantos haces se generan con un microscopio multibeam
51
41
91
61
El SEM ION BEAM utiliza:
Plasma de Cd
Plasma de Ga
Plasma de Ge
Plasma de In
La microscopia correlativa Se basa en analizar ROI usando diferentes tipos de microscopía utilizando:
Marcadores
Coordenadas espaciales
Metodos de alineacion de imagen
Todas las anteriores
En el SEM las imágenes tienen una apariencia tridimensional gracias a que tiene
Aperturas grandes
Usa Electrones
Una gran cámara
y objetivos grandes
Gran Profundidad de Campo
Grandes aperturas
Gran profundidad de foco y gran profundidad de campo
