Mikroskopie und Mikroanalytik WiSe 25/26: Kapitel 5 TEM

Welcher Bereich von Beschleunigungsspannungen ist für TEM-Untersuchungen geeignet?

• 1 – 5 eV

• 50 – 500 eV

• 0,1 – 1 keV

• 10 – 2000 keV

• 50 – 500 keV

Welcher Bilderzeugungsmodus der Transmissionselektronenmikroskopie ist auf dem Bild zu erkennen?

• Abbildungsmodus

• Strahlung-Modus

• Beugungsmodus

• Streuungsmodus

• Punktmodus

Welche Verfahren sind für die Probenpräparation einer TEM-Untersuchung geeignet?

• Ultramikrotomie

• Ionenätzung

• Schleifen, Polieren und Verdünnung in einer Ionenmühle

• Fokussierter Ionenstrahl (FIB)

• Elektropolieren

Wie ist die maximale Probendicke für die TEM-Untersuchung eines austenitischen Stahls?

• 200 nm

• 2 µm

• 100 µm

• 1000 nm

• 5-50 nm

Das Bild zeigt die Elektronenbeugung einer TEM-Untersuchung. Welche Kristallstruktur erzeugt das Bild?

• Konzentrischer Kristall

• Monokristall

• Kristallzwilling

• Einkristall

• Polykristall

Welche Randbedingungen sollten für die Durchführung einer Atomsondentomografie eingehalten werden?

• Tiefe Temperaturen

• Ultrahochvakuum

• Niedrigvakuum

• Hochspannungsfelder

• Leitfähigkeit der Probe

Welche Messparameter sind für die Durchführung einer Atomsondentomografie wichtig?

• Beschleunigungsspannung der Elektronen

• Spannung der Feldverdampfung

• Flugzeit der Ionen

• Ionisierungspotenzial

• Position der Ionen im Detektor

Welche Elektronen des Interaktionsvolumens („Birne“) werden bei TEM-Untersuchungen genutzt?

• Transmittierte Elektronen

• Primärelektronen

• Sekundärelektronen

• Auger-Elektronen

• Gebeugte Elektronen