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Worksheetsparcial de nano 2
Total questions: 146
Worksheet time: 1hrs 13mins
El análisis de un material por difracción de rayos X permite:
Determinar el estado de oxidación de los elementos presentes
Determinar los grupos funcionales presentes
Determinar la topografía de la superficie
Ninguna de las anteriores
El SEM se clasifica entre las técnicas de:
Microscopia electrónica
Microscopia óptica
Microscopia de barrido por sonda
Todas las anteriores
La espectroscopia RAMAN se basa en:
La dispersión de radiación por parte de un material
La emisión de radiación de por parte de un material
La absorción de radiación por parte de un material
Todas las anteriores
La espectroscopia infrarroja es útil para identificar:
La topografía de una nanoestructura basada en el tipo de radiación
El estado de oxidación de los elementos presentes en un material
Los grupos funcionales presentes en un material
Todas las anteriores
Las imágenes de microscopia de fuerza atómica pueden ser adquiridas mediante el modo:
Contacto, no contacto y tapping
Retrodispersado, secundario y rayos X
Tuneleo, rayos γ y rayos X
Ninguna de las anteriores
Los materiales mesoporosos se encuentran dentro del rango de tamaño de poros de:
> 100 nm
2 nm y 50 nm
< 2 nm
Ninguna de las anteriores
La siguiente corresponde a un tipo de nanolitografía:
Litografía óptica
Litografía de rayos X
Litografía de electrones
Todas las anteriores
Una de las aplicaciones fundamentales de la espectroscopía fotoelectrónica por rayos X es el estudio de:
La cristalinidad de la superficie
La composición de una superficie
La topografía de la superficie
Cualquiera de las anteriores
El dry-etching se realiza mediante la utilización de:
Plasma
Líquidos
Sólidos
Todas las anteriores
Dentro de las aplicaciones de la difracción de rayos X se encuentra:
Identificación de fases cristalinas
Análisis cuantitativo
Pureza de muestras
Todas las muestras
La técnica de Ball Milling es ideal para obtener:
Películas delgadas
Nanocristales de óxidos
Materiales con topografía homogénea
Ninguna de las anteriores
La microscopia electrónica de barrido involucra el uso de electrones:
Retrodispersados
Secundarios
Primarios
Todas las anteriores
Una de las principales aplicaciones de la fotoluminiscencia es el análisis de:
Material con alta cristalinidad
Catalizadores
Superconductores
Cualquiera de las anteriores
El ataque químico anisotrópico se da en la técnica de
Dry-etching
Chemical-etching
Chemical vapor deposition
Ninguna de las anteriores
El fenómeno de histéresis está relacionado con:
La diferencia en el camino recorrido por la isoterma de desorción respecto a la de
adsorción
La alta área superficial del material analizado
La existencia de diferentes tipos de isotermas de adsorción
Todas las anteriores
La microscopia SNOM es una modificación de la técnica:
Microscopia electrónica de barrido
Microscopia electrónica de transmisión
Microscopia óptica
Microcopia de fuerza atómica
¿Qué tipo de información se puede obtener mediante la espectroscopia por energía dispersiva de rayos X?
Análisis cuantitativo
Estructura cristalina
Estado de oxidación de los elementos
Todas las anteriores
La técnica mas adecuada para estudiar la presencia de defectos o imperfecciones en la estructura de un nanomaterial es:
Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
Métodos de BET a partir de las isotermas de adsorción-desorción
Microscopia electrónica de barrido
Ninguna de las anteriores
Una de la diferencia de la fisisorción a quimisorción es que en la primera:
La energía de activación es mayor
Sólo es posible una monocapa
Se puede dar en cualquier lugar de la superficie del material
Todas las anteriores
Con cuál técnica se adquieren imágenes con una resolución lateral a escala atómica:
AFM
SEM
STM
Todas las anteriores
Selecciona la respuesta que MEJOR SE AJUSTE al enunciado teniendo en cuenta la siguiente
información:
La figura mostrada corresponde al resultado de un análisis de:
Espectroscopia infrarroja
Difracción de rayos X
Isoterma de adsorción-desorción
Ninguno de los anteriores
El esquema mostrado en la figura corresponde a un equipo de:
El esquema mostrado en la figura corresponde a un equipo de:
Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
Microscopia electrónica de barrido
Microscopia electrónica de transmisión
En la técnica representada en el esquema de la figura anterior se puede llevar a cabo análisis de:
Estudio de la topografía de los materiales
Estudio de la cristalinidad de los materiales
Estudio de los estados de oxidación de los elementos presentes en los materiales
Ninguna de los anteriores
Las micrografías mostradas fueron tomadas usando un equipo de:
Microscopia electrónica de transmisión
Microscopia óptica de campo cercano
Microscopia de fuerza atómica
Microscopia electrónica de barrido
La micrografía de la izquierda fue tomada usando un detector de electrones
Retrodispersados
Primarios
Secundarios
Las micrografías no fueron tomadas usados electrones
A partir de la figura, las isotermas Tipo I y Tipo IV son características de materiales:
Macroporosos y mesoporosos, respectivamente
Con baja adsorción y microporosos, respectivamente
Microporosos y mesoporosos, respectivamente
Ninguna de las anteriores
La isoterma Tipo III es característica de materiales con baja adsorción de gas y no es muy adecuada para determinar propiedades texturales de los materiales (área superficial, etc.). En este caso, lo mejor será:
Cambiar el material usado en el análisis
Cambiar el gas usado como adsorbato
Aumentar la temperatura del proceso
Todas las anteriores
Una de las principales limitaciones de la microscopia óptica de barrido de campo cercano
es:
El voltaje con el que se aceleran los electrones
La longitud de onda
La apertura de la sonda de fibra
Ninguna de las anteriores
La microscopia óptica de barrido de campo cercano se clasifica dentro de las técnicas de:
Microscopia de zona de barrido
Microscopia electrónica de barrido
Microscopia óptica
Ninguna de las anteriores
Una de las principales ventajas de la espectroscopia RAMAN es:
El uso de rayos X
La posibilidad de cuantificar los elementos presentes en la muestra
La posibilidad de estudias los defectos estructurales de un nanomaterial
Ninguna de las anteriores
De acuerdo con lo anterior podemos deducir que la figura “b”:
Es una nanoestructura fabricada por el método wet-etching
Es una nanoestructura con un perfil isotrópico
Es una nanoestructura fabricada por método chemical-etching
Es una nanoestructura con un perfil anisotrópico
De la figura “a” podemos deducir que:
El material es atacado de manera uniforme en todas las direcciones por el reactivo
El material es atacado de manera uniforme en la dirección vertical por el reactivo
El material es fabricado mediante el método dry-etching
Todas las anteriores
Todas las anteriores
Isotrópica, anisotrópica y parcialmente anisotrópica
Anisotrópico, isotrópica y parcialmente anisotrópica
Parcialmente anisotrópica, isotrópico y anisotrópica
Parcialmente anisotrópica, anisotrópica y isotrópica
Cuales son las partes que deberían escribirse en los recuadros de la figura anterior
Fotodetector y rayo láser
Rayo láser y cantiléver
Cantiléver y punta afilada
Sonda y superficie
El esquema de la figura anterior corresponde a un:
Espectroscopio de fotoelectrones emitidos por rayos X
Microscopio de efecto túnel
Microscopio óptico de barrido de campo cercano
Microscopio de fuera atómica
¿Cuál técnica de caracterización sería útil para medir el tamaño de una nanopartícula de oro obtenida a partir de un sistema complejo?
Microscopía electrónica de transmisión
xx
¿Cuál tipo de electrones pueden ser empleados para caracterizar gases?
Auger
xx
Con la técnica de AFM se pueden construir imágenes por medio de un mapeo espacial y, las cuales son:
En pseudocolor
xx
La dispersión inelástica se presenta cuando los fotones dispersados e incidentes tienen:
Diferente frecuencia
xx
Esta técnica permite reconocer el estado de oxidación de la muestra analizada:
XPS
xx
Si se desea analizar superficies de líquidos nanométricos, ¿Cuál modo de AFM se emplearía?
No contacto y contacto intermitente
xx
En esta técnica es necesario el uso de electrones primarios para su funcionamiento:
SEM
xx
Una principal problemática de AFM es:
R//La aguja sufre de fatiga, puede ocasionar una fractura frágil, es decir que con solo encender el
equipo esta se puede dañar
xx
El proceso Compton scattering hace parte de las interacciones de la radiación X con la materia. Dicho proceso hace parte del fundamento de la técnica:
XPS
xx
Técnica que permite estudiar las propiedades ópticas de la muestra (reflectividad, transmisión de luz, difracción de luz) con resolución espacial de decenas de nanómetros:
SNOM
xx
Afirmaciones de la fotoluminiscencia:
Es una técnica de caracterización espectroscópica de emisión muy común para el estudio de las
propiedades de los nanomateriales. Este tipo de luminiscencia proviene de la energía
electromagnética, se puede apreciar en los rayos UV, rayos X y rayos catódicos. Es una propiedad que
poseen determinados elementos para emitir radiación luminosa después de haber sido sometidos a
estimulación externa.
xx
Los electrones que permiten obtener información cristalográfica de la muestra son:
Retro-dispersados
xx
La distribución de equipos de la imagen anterior identifica las siguientes técnicas según la secuencia:
TEM, SEM, CTR
xx
Cuando un fotón es dispersado con una frecuencia mayor a la del fotón incidente, se considera que se presenta la dispersión:
Anti-Stokes
xx
Técnicas de caracterización que se pueden emplear para analizar células:
Luminiscencia, SNOM, AFM
xx
El espectro obtenido por XPS presenta:
En las abscisas energía de enlace y en las ordenas intensidad
xx
¿Qué efecto permite organizar la estructura de los electrones y simula un electroimán?
Efecto de túnel del cuanto
xx
En el efecto fotoeléctrico, la energía cinética máxima de los fotoelectrones emitidos por un metal depende de:
La frecuencia de la luz incidente
xx
Para STM, se considera que una buena resolución es de:
0.0001 μm de resolución lateral y 0.00001 μm de resolución de profundidad
xx
Cuáles de las siguientes técnicas de caracterización pueden ser consideradas destructivas:
TEM, AFM.
xx
Si una superficie metálica emite fotoelectrones cuando se ilumina con luz verde, ¿los emitirá cuando sea iluminada con luz azul?
Si, puesto que la longitud de onda del color azul es menos que la correspondiente al color verde.
xx
Una de las técnicas más recomendadas par la caracterización de CNTs es:
STM
xx
En SEM y TEM, el tamaño mínimo observable es de:
0.00001 mm y 0.000001 mm
xx
Desventaja de la técnica AFM en el modo de trabajo NCM
Menor velocidad de barrido
xx
Técnica que puede ser empleada para caracterización de gases:
RAMAN
xx
Un fotón de rayos X es dispersado por un electrón originalmente inmóvil. ¿Qué le ocurro a la
frecuencia del fotón dispersado en la relación con la del fotón incidente?
Disminuye
xx
Referente a litografía con electrones:
El haz se dirige directamente sobre el sustrato o una resina sensible. Se emplea revelador de
áreas expuestas. Tiempos de escritura muy largos.
xx
Dentro de las aplicaciones de la difracción de rayos x encuentra:
Identificación de las fases cristalinas. Análisis cuantitativo. Pureza de las muestras.
xx
De acuerdo con la litografía de inmersión (por agua), indicar cual afirmación es falsa:
Utilizad como propulsor gas CO.
xx
¿Con cual técnica se debe combinar SEM para examinar la morfología de un polvo de Ag y también
para realizar análisis de composición química de una muestra de estas nanopartículas soportadas
en un hilo de seda?
EDX
xx
Para caracterizar sustancias líquidas ¿Cuál de las siguientes técnicas se emplearía?
STM y Raman
xx
Se está realizando una investigación para diferenciar las células cancerígenas de las células
normales y para esto se le solicita a usted como ingeniero químico escoger la técnica de
caracterización a utilizar, la técnica que escogería es:
AFM
xx
La microscopía electrónica de transmisión permite:
Reconocer cambios estructurales de materiales sometidos a diversos tratamientos
xx
Nano litografía se podría definir como:
Transferir patrones de un medio a otro
xx
Según los principios empleados en Nanolitografía por plasma, cuál de estos enunciados es falso
No se puede generar sistemas multicapas
xx
La espectroscopía de infrarrojo es útil para identificar:
Los grupos funcionales presentes
xx
Es un concepto verdadero que hace parte de Ball-Milling de alta energía:
Se presentan cambios estructurales
xx
Cuál de las siguientes técnicas posee un mayor espectro de lectura:
Cuál de las siguientes técnicas posee un mayor espectro de lectura:
xx
Técnica ideal para leer sustancias radioactivas
FTIR
xx
Entre más esbelto sea un pico en un espectro obtenido en XRD, la sustancia
Es más cristalina
xx
estas micrografias fueron tomadas usando un
microscopio de fuerza atomica
microscopio electronico de transmision
microscopio de efecto tunel
microscopio electronico de barrido
que tipo de detector se uso para tomar la imagen a
un cristal piezoelectrico a una ddistancia de un nanometro
un cantilever en modo no contacto
un detector de electrones retrodispersados
un detector de electrones secundarios
con la tecnica AFM se pueden construir imagenes por medio de un mapeo espacial y, las cuales son
a blanco y negro
a color
a pseudocolor
en tonos de sepias
la dispersiin inelastica se presenta cuando los fotones dispersados e incidentes tienen
igual longitud de onda
igual frecuencia
diferente frecuencia
igual magnitud
esta tecnica permite reconocer el estado de oxidacion de la muestra analizada
TEM
SNOM
XRD
XPS
si se dese analizar superficies de liquidos nanometricos,¿cual modo de AFM se emplearia?
contacto y contacto intermitente
no contacto y contacto
contacto, contacto intermitente y no contacto
no contacto y contacto intermitente
el proceso compton scattering hace parte de las interaccines de la radiacion x con la materiq.dicho proceso hace parte del fundamento de la tecnica
XRD
EDS
XPS
MFM
Tecnica que permite estudias las propiedades opticas de la muestra (reflectividad, transmision de luz,difraccion de luz)con resolucion espectral de decens de nanometros
STM
AFM
XRD
SNOM
Los electrones que periten obtenet informacion cristalografica de la muestra son
retrodispersados
secundarios
primarios
auger
cuando un foton es dispersado con una frecuencia mayor a la del foton incidente, se considera que se presenta la dispersion
elastica
rayleigh
stokes
anti-stokes
el espectro obtenido por XPS presenta
en las abcisas el grado de incidencia y en ordenadas intensidad
en las absisas energia de enlace y en las ordenadas intensidad
en las abcisas el numero de onda y en las ordenadas la intensidad
en las abcisas delta de energia y en las ordenadas longitus de onda
Para un STM,se considera que una buena resolucion es de
0,001 nm de resolucion laterial y 0,01 nm de resolucion de profundidad
0,0001um de resolucion lateral y 0,00001um de resolucion de profundidad
0,001 nm de resolucion laterial y 0,01 nm de resolucion de profundidad
0,000001 um de resolucion laterial y 0,0000001 um de resolucion de profundidad
cual de las siguientes tecnicas de caracterizacion puede ser consideradas destructivas
XPS,RAMAN
FT-IR,STM
TEM,AFM
SEM,XPS
una de las tecnicas mas recomendadas para la caracterizacion de CNTs es
TEM
SEM
STM
XRD
En SEM y TEM, el tamaño minimo obserbable es de
0,01 um y 1um
0,001um y 0,1um
0,00001mm y 0,000001mm
100nm y 1nm
tecnica que puede ser empleada para caracterizacion de gases
SEM-EDS
MFM
RAMAN
AFM
¿con cual tecnica de se debe combinar SEM para examinar la morfologia de un polvo de Ag y tambien para realizar analisis de composicion quimica de una muestra de estas nanoparticulas soportadas en un hilo de seda
AFM
STM
TEM
EDX
para caracterizar sustancias liquidas¿cual de las siguientes tecnicas se emplearan?
XPS y XRD
STM y raman
Raman y SEM
IR y XRD
se esta realizando una investigacion para diferenciar las celulas cancerigenas de las celulas normales y para esto se le solicita a usted como ing q escoger la tecnica de caracterizacion a utilizar, la tecnica que escogeria es
AFM
STM
TEM
SEM
En que condiciones se debe trabajar para obtener una alta resolucion en SEM
Bajo vacio y aditamiento en el equipo
condiciones atmosfericas y sufercie conductora
condiciones atmosfericas y supercie NO conductora
Alto vacio y superficie conductora
La espectroscopia de infrarrojo es util para identificar
la topografia de una nanoestructura basada en el tipo de radiacion que absorbe la muestra
El estado de oxidacion de los elementos presentes en un material
los grupos funcionales presentes
la coloracion de los metales presentes
cual de las siguentes tecnicas posee un mayor espectro de lectura
raman
FTIR
PL
XRD
Tecnica ideal para leer sustancias radioactivas
TEM
XRD
PL
FTIR
La grafica corresonde al espectro del difluorotiofosfato de tetrapropilamonio, donde los diferentes picos indican de que parte de la molecula junto la orbita de donde se originaron los electrones captados por el detector
a que tecnica podria asociarse?
TEM
SEM
XPS
XRD
¿E n que tipo de linea se obsrva el efecto en el cual los niveles vibracionales se encuentran lo suficientemente poblados y se observa la dispersion de fotones cuya energia ha aumentado en hv?
elastica
rayleigh
stokes
anti-stokes
si se desea analizar suoerficies de materiales solidos nanometricos¿cual tipo de escaneoAFM se emplearia?
Tapping mode
contac mode
non contac mode
retrodispersive mode
cuando un electron con una determinada velocidad choca una muestra puede ocurrir que el electron atraviese limpiamente la muestra sin interactuar.lo anterior es la base fundamental de la tecnica
XPS
TEM
SEM
XRD
La espectroscopia raman se basa en
la emision de radiacion por parte de un material
la dispersion de radiacion por parte de una material
la absorsion de radiiacion por parte de un material
la interferencia de radiacion por parte de un material
tecnica que permite medir las fuerzas de enlace entre sistemas intervinientes
AFM
SEM
TEM
XRD
Electrone empleados pra leer informacion quimica en capas superficiales
secundarios
retrodispersados
auger
primarios
tecnica para hacer lectura composicional de las muestras analizadas
RAMAN Y XRD
XRD Y AFM
TEM Y XPS
EDS Y AFM
Los electrones que permiten obtener informacion cristalografia de la muestra son
primarios
secundarios
retrodispersados
auger
cuando un foton es dispersado con una frecuencia manor a la del foton incidente, se concidera que se presenta la disepersion
elastica
rayleigh
stokes
anti-stokes
con cual tecnica se puede obtener imagenes de la materia a escala nanometrica de los atomos
AFM
STM
TEM
MFM
Por medio de esta tecnica se puede detectar y cuantificar los elementos presentes en la superficie
EDS
XPS
RAMAN
XRD
Tecnica de caracterizacion util para identificar materiales desconocidos y para determinar la calidad a la consistencia de la muestra
XRD
SEM
FT-IR
TEM
La muestra no necesita ser electricamente conductora, la medicion se puede realizar a temperatura ambiente, en UHV, en medio liquido, y es no destructiva a la red cristalina. lo anterior son ventajas de la tecnica
SEM
MFM
STM
XPS
con cual tecnica debo combinar SEM para examinar morfologia del polvo de Ag y tambien para realizar analisis de composicion quimica de una muestra de las nanoparticulas de plata aportadas en hilo de seda?
AFM
STM
TEM
EDX
Depende del tipo de laser que se emplee en el cabezal raman, puede ser de menor o de mayor T que el de fotoluminiscencia segun la sensibilidad del raman, y para cual aplicacion especifica lo empeleen. lo anterior se refiere a una comparacion entre PL y RAMAN con respecto a
PL requiere menot intensidad que raman
PL requiere aumentar la variable intensidad vs el numero de onda en comparacion con raman
PL puede tener igual intensidad que raman
PL requiere mayor intensidad que raman
para caracterizar sustancias liquidas ¿cual de las siguientes tecncas se emplearia?
XPS Y XRD
RAMAN Y SEM
IR Y XRD
STM Y RAMAN
Tecnica de caracterizacion a escala nanometrica que puede determinar un perfil de esfuerzos mecanicos
SEM
XRD
EDS
AFM
En la microscopia electronica de barrido(SEM), cuales son los electrones difractados por la superficie de la mestra que cumplen la ley de bragg en el punto que son generados
SE
EDS
BSED
WDS
el siguiente esquima basico corresponde a la tecnica
AFM
STM
SEM
TEM
Las tecnicas de microscopia como STM, AFM, MFM que permiten el trazado de mapas de la superficie de un material, se clasifican como tecnca
AFM
SPM
SEM
TEM
Tecnicas que tienen un haz electronico respectivamente no puntual y puntual
STM Y TEM
AFM Y STM
SEM Y AFM
TEM Y SEM
en esta tecnica el fundamento radica en que los electrones emitidos por un catodo de tungstano pasan a traves de una columna en la que se ha hecho un vacio alrededor de 10¨-7 Torr. en ella, el haz inicial es concentrado por una serie de lentes electromagniticos desde unos 25000-50000 nm hasta unos 10 nm, su diametro va disminuyendo hasta hacerse casi puntual
AFM
STM
SEM
TEM
AFM
STM
SEM
TEM
cuando el has de electrones colisiona con los electrones de las capas mas internas de los atomos de la muestra, saca un electron de su sitio, creando una vacancia, esta es ocupada por un electron de las capas mas extrernas. la transicion de la capa externa a una interna genera radiacion x. esto es caracteristico de la tecnica:
EDS
XRD
efecto compton
efecto fotoelectrico
la imagen corresponde a
representacion energetica de las diferentes posibilidades de dispersion al incidir un foton sobre una muestra
diagrama energetico en el que se observan las bandas de intensidad debidas a la luz dispersada(lineas de stokes)
representacion del efecto raman con los posibles estados que se dan por la resonancia(vibracion)de la luz absorbida de algunas moleculas que se encuentran en una muestra
que tipo de detector se uso para tomar la imagen b
un detector de electrones secundarios
un detector de foto emision de rayos x
un detector de electrones retrodispersados
un detector de rayos auger
si se desea analizar superficies de liquidos nanometricos ¿cual modo de AFM se emplearia?
contacto y contacto intermitente
no contacto y contacto
contacto, contacto intermitente y no contacto
no contacto y contacto intermitente
tecnica de caracterizacion que NO se puede emplear para analizar celulas
luminisciencia
SNOM
AFM
XRD
¿Que efecto permite organizar la estructura de los electrones y simula un electroiman?
efecto de fotoluminiscencia
efecto de tunel del cuanto
efecto del electron retro dispersdo
efecto del electron auger
en el efecto fotoelectrico, la energia cinetica maxima de los fotoelectrones emitidos por un metal depende de
la intensidad de la luz incidente
la frecuencia de la luz incidente
la velocidad de la luz
el trabajo de extraccion del metal
desventaja de la tecnica AFM en el modo de trabajo NCM
auscencia de fuerzas aplicadas sobre la muestra
cambios bruscos en topografia
menor resolucion atomica y espacial
menor velocidad de barrido
un foton de rayos x es dispersado por un electron originalmente inmovil.¿que le ocurre a la frecuencia del foton dispersado en relacion con la del foton incidente?
aumenta
disminuye
no cambia
entra en modo intermitente
dentro de las aplicaciones de la difraccion de rayos x se encuentra
identificacion de las fases cristalinas
analisis cuantitativo
pureza de muestras
todas las anteriores
cual de las siguientes tecnicas posee un mayor espectro de lectura
RAMAN
FTIR
PL
XRD
La tecnica mas adecuada para estudiar la presencia de defectos o imperfecciones en sustratos es
espectroscopia fotoelectrica de rayos x
espectroscopia infrsroja con transformada de fourier
microscopia electronica de transmision
microscopia estereoscopica
cuando un electron con una determinada velocidsd choca con una muestra puede ocurrir que ele electron interaccione con alguno de los electrones locales de los orbitales internos y acabe ionizando, razon por la cual el va a volver a su estado de equilibrio. una forma de hacerlo es emitiendo un foton de radiacioon X.Lo anterior es la base de la tecnica
EDS
RAMAN
XRD
UV-vis
tecnicas de caracterizacion que permite obtener respuesta tanto en imagen como espectralmente
RAMAN Y SNOM
SEM Y TEM
AFM Y
XRD Y XPS
Desventaja de la tecnica AFM en el modo de trabajo NCM
ausencia de fuerzas aplicadas sobre la muestra
menor velocidad de barrido
cambios bruscos en la topografia
menor resolucion atomica y espacial
tecnica bastante usada para proporcionar informacion quimica y estructural de cualquier material
XPS
XRD
RAMAN
AFM
FT-IR
XRD
tecnica que proporciona informacion cualitativa y cuantitativa sobre la composicion elemental de la materia,en particular de superficies de solidos
XRD
SEM
XPS
TEM
la figura corresponde al resultado de un analisis en el que se obtuvieron espectros de las muestras CuZ5M5-30-350.A cual tecnica corresponden dichos espectros
XPS
XRD
EDS
RAMAN
en la siguiente imagen muestra la formacion de granos con fronteras distinguibles y se observan ligeros cambios en la topografia de la superficie para las diferentes muestras realizadas en los sustratos vidrio/Ti y en los electrodos Ti/Pt.
En cual de las tecnicas de caracterizacion de nanoestructuras vistas en clase se realizaron las medidas o el analisis del sustrato vidrio/Ti
STM
AFM
SNOM
MFM
La siguiente imagen de uan superficie de platino que muestra una resolucion atomica excepcional,corresponde a la tecnica
AFM
STM
SEM
TEM
la mayor parte de los fotones de los haces dispersados tienen la misma longitud de onda que los del haz exitador. se dice que estos fotones han sufrido una
dispersion raman
dispersion rayleigh
dispersion de energia fotoelectronica
dispersion monocromatica
el siguiente diagrama esquematico del diseño basico de un microscopio que corresponde a la tecnica
AFM
STM
SEM
TEM
la siguiente grafica representa el espectro de poliestireno abtenido por la tecnica
EDS
XRD
FTIR
RAMAN
