wayground logo

Free Printable Worksheets

Font size

S
M
L
XL
Worksheets

Quiz về Kính Hiển Vi Điện Tử Quét (SEM)

Total questions: 100

Worksheet time: 50mins

Name
Class
Date
1.

SEM viết tắt của từ nào?

a)

Scanning Electron Microscopy

b)

Scanning Emission Microscopy

c)

Surface Electron Microscopy

d)

Selected Electron Mapping

2.

SEM chủ yếu cung cấp thông tin nào về mẫu?

a)

Cấu trúc tinh thể bên trong

b)

Hình thái bề mặt và phân bố hạt

c)

Điểm nóng chảy

d)

Hàm lượng C/H

3.

Phân tích thành phần nguyên tố tại chỗ trên SEM dùng kỹ thuật nào?

a)

FTIR

b)

EDS/EDX

c)

XRD

d)

DLS

4.

Nhược điểm chính của SEM là:

a)

Mẫu phải rất mỏng ≤ 10 nm

b)

Không quan sát được cấu trúc bên trong

c)

Không thể đo kích thước hạt

d)

Không cần chân không

5.

Xử lý mẫu cách điện trước khi đo SEM:

a)

Làm khô ở 400 ºC

b)

Phủ lớp mỏng dẫn (Au, C, Pt)

c)

Hòa tan mẫu

d)

Đóng băng mẫu

6.

Ưu thế của ảnh SEM so với kính hiển vi quang học:

a)

Không cần chân không

b)

Độ sâu trường ảnh lớn hơn và ảnh dạng 3D trực quan

c)

Quan sát cấu trúc nguyên tử

d)

Tốc độ quét chậm hơn

7.

EDS/EDX gắn với SEM KHÔNG cho thông tin nào?

a)

Nguyên tố có mặt

b)

Bản đồ phân bố nguyên tố

c)

Trạng thái hóa trị chi tiết

d)

Phân tích tại chỗ

8.

Đo kích thước trung bình hạt từ ảnh SEM:

a)

Dùng phần mềm xử lý ảnh

b)

Dùng TGA

c)

Dùng XRD

d)

Dùng FTIR

9.

Nguyên lý TEM là gì?

a)

Tán xạ tia X trên bề mặt

b)

Truyền electron năng lượng cao xuyên qua mẫu mỏng

c)

Tán xạ ánh sáng laser

d)

Đo chuyển động Brown

10.

Chế độ SAED trong TEM cho thông tin gì?

a)

Hình thái bề mặt

b)

Cấu trúc tinh thể và chỉ số mặt mạng

c)

Thành phần nguyên tố

d)

Kích thước huyền phù

11.

Hạn chế quan trọng khi làm TEM là gì?

a)

Thiết bị rẻ

b)

Mẫu phải rất mỏng (≤100 nm) và chuẩn bị phức tạp

c)

Không cần chân không

d)

Không thể kết hợp EDS

12.

HRTEM cho phép quan sát điều gì?

a)

Dung dịch keo

b)

Ảnh mạng tinh thể và khoảng cách mặt phẳng nguyên tử

c)

Phổ Raman

d)

Quang phổ UV–Vis

13.

Chế độ Bright Field (BF) trong TEM phụ thuộc vào yếu tố nào?

a)

Electron không tán xạ tạo ảnh

b)

Photon phát quang

c)

Sự hấp thụ tia X

d)

Tán xạ Rayleigh

14.

TEM kết hợp EDS dùng để làm gì?

a)

Phân tích pha tinh thể

b)

Phân tích thành phần nguyên tố độ phân giải điểm cao

c)

Đo diện tích BET

d)

Đo PDI

15.

TEM không thích hợp cho trường hợp nào?

a)

Mẫu sinh học nhạy cảm nếu không xử lý

b)

Cấu trúc mạng tinh thể

c)

Độ dày lớp nano

d)

Mô tả kích thước vài nm

16.

Kỹ thuật nào đo khoảng cách mặt phẳng nguyên tử trực tiếp?

a)

SEM

b)

HRTEM

c)

BET

d)

XRD

17.

Trong TEM, Dark Field (DF) hữu ích để làm gì?

a)

Hiển thị diện tích bề mặt

b)

Xác định các hạt phân tán và cấu trúc tinh thể

c)

Đo nhiệt độ phân hủy

d)

Phân tích quang học

18.

Phương trình Bragg trong XRD là gì?

a)

nλ = 2d sinθ

b)

E = mc²

c)

λ = c / v

d)

F = ma

19.

XRD dùng để xác định điều gì?

a)

Nhóm chức bề mặt

b)

Pha tinh thể và chỉ số mặt mạng

c)

Kích thước hydrodynamic

d)

Chỉ số khúc xạ

20.

XRD không dùng để làm gì?

a)

Xác định độ tinh thể

b)

Xác định pha

c)

Phân tích nhóm chức hóa học bề mặt

d)

So sánh cấu trúc

21.

Độ rộng đỉnh XRD dùng để ước tính gì?

a)

Kích thước tinh thể

b)

Hàm lượng carbon

c)

Điểm nóng chảy

d)

Tốc độ phân tán

22.

Lợi ích khi kết hợp XRD và TEM là gì?

a)

Thay thế TGA

b)

Có được thông tin pha (XRD) và hình ảnh (TEM)

c)

Giảm kích thước hạt

d)

Đo điện trở

23.

Để xác nhận pha mới trong vật liệu nano, nên dùng phương pháp nào?

a)

DLS

b)

XRD (kèm TEM/SAED nếu cần)

c)

UV–Vis

d)

BET

24.

FTIR cho thông tin:

a)

Cấu trúc tinh thể

b)

Nhóm chức và liên kết hóa học

c)

Kích thước hạt trong dung dịch

d)

Điện tử tính

25.

Vùng đo phổ FTIR:

a)

400–4,000 cm⁻¹

b)

10–100 cm⁻¹

c)

10–100 nm

d)

1–10 eV

26.

Ưu điểm của ATR-FTIR:

a)

Cần mẫu rất mỏng ≤1 nm

b)

Dễ đo mẫu rắn/khô không cần chuẩn bị phức tạp

c)

Phải dùng chân không

d)

Phân tích nguyên tố

27.

Đỉnh mạnh ~1,700 cm⁻¹ chỉ ra nhóm:

a)

C–H

b)

C=O (carbonyl)

c)

N–H

d)

Si–O

28.

FTIR dùng để:

a)

Xác định band gap

b)

Phân tích nhóm chức sau khi biến chức bề mặt

c)

Đo diện tích BET

d)

Đo kích thước hydrodynamic

29.

Kết luận vật liệu có phủ hữu cơ trên hạt nano:

a)

FTIR (xác định nhóm hữu cơ)

b)

XRD

c)

DLS

d)

VSM

30.

Nguyên lý Raman:

a)

Tán xạ không đàn hồi của ánh sáng

b)

Nhiễu xạ tia X

c)

Truyền electron qua mẫu

d)

Tán xạ đàn hồi

31.

So sánh Stokes và Anti-Stokes:

a)

Stokes yếu hơn

b)

Stokes mạnh hơn

c)

Cả hai bằng nhau

d)

Chi Rayleigh quan trọng

32.

Bước sóng laser dùng trong Raman là gì?

a)

20 nm, 50 nm

b)

532 nm, 633 nm, 785 nm

c)

10 μm, 20 μm

d)

100 nm, 200 nm

33.

Raman hữu ích phân tích đặc điểm nào sau đây?

a)

Nhóm chức hữu cơ

b)

Dao động mạng tinh thể (graphitic defects)

c)

Kích thước hydrodynamic

d)

Pha lỏng/khí

34.

Hạn chế của Raman so với FTIR là gì?

a)

Không nhạy với dao động có phân cực mạnh

b)

Không thể dùng laser

c)

Không cho thông tin mạng tinh thể

d)

Không đo ở chân không

35.

Raman trong vật liệu nano carbon cung cấp thông tin gì?

a)

Chỉ kích thước hạt

b)

D band, G band, 2D band

c)

Kích thước hydrodynamic

d)

Tính từ tính

36.

UV–Vis thường dùng để làm gì?

a)

Nhóm chức hóa học bề mặt

b)

Band gap hoặc plasmon resonance

c)

Kích thước rắn

d)

Độ ổn định nhiệt

37.

Đỉnh plasmon Au thường xuất hiện gần giá trị nào?

a)

520 nm

b)

10 nm

c)

4000 cm⁻¹

d)

1000 eV

38.

DLS đo thông số nào?

a)

Kích thước hydrodynamic

b)

Cấu trúc tinh thể

c)

Diện tích BET

d)

Trạng thái oxi hóa

39.

Khác biệt giữa TEM và DLS là gì?

a)

TEM đo kích thước hydrodynamic

b)

TEM đo kích thước vật lý, DLS đo hydrodynamic

c)

TEM đo diện tích bề mặt, DLS đo thể tích

d)

TEM đo trạng thái oxi hóa, DLS đo cấu trúc tinh thể

40.

PDI trong DLS là gì?

a)

Porosity Distribution Index

b)

Polydispersity Index

c)

Potential Diffusion Index

d)

Peak Depth Indicator

41.

DLS không tốt để làm gì?

a)

Đo kích thước trung bình

b)

Phân biệt mẫu đa modal với thành phần nhỏ

c)

Theo dõi ổn định keo

d)

Báo PDI

42.

EDX cho biết thông tin gì?

a)

Nhóm chức

b)

Thành phần nguyên tố định tính/định lượng

c)

Band gap

d)

Diện tích BET

43.

Kỹ thuật nào xác định trạng thái oxi hóa bề mặt?

a)

EDX

b)

XPS

c)

DLS

d)

BET

44.

Giới hạn của EDX là gì?

a)

Không phát hiện nguyên tố nhẹ như H, Li

b)

Không phát hiện kim loại

c)

Không cho bản đồ phân bố

d)

Đo trạng thái oxi hóa chi tiết

45.

Phân bố nguyên tố tại chỗ trên bề mặt dùng kỹ thuật nào?

a)

SEM + EDX

b)

DLS + UV–Vis

c)

XRD + BET

d)

TGA + DSC

46.

TGA đo gì?

a)

Khối lượng thay đổi theo nhiệt độ

b)

Quang phổ Raman

c)

Điện trở suất

d)

Kích thước hạt

47.

DSC đo:

a)

Thay đổi khối lượng

b)

Nhiệt thu/phát trong chuyển pha

c)

Kích thước tinh thể

d)

pH

48.

TGA dùng để ước lượng:

a)

Hàm lượng hữu cơ/lớp phủ trên nano

b)

Kích thước hydrodynamic

c)

Diện tích BET

d)

Điện trở suất

49.

Kiểm tra nhiệt độ bắt đầu phân hủy của vật liệu nano hữu cơ dùng:

a)

XRD

b)

TGA

c)

FTIR

d)

DLS

50.

BET đo:

a)

Diện tích bề mặt riêng và thông tin mao quản

b)

Băng dải

c)

Trạng thái oxi hóa

d)

Kích thước hydrodynamic

51.

SEM là viết tắt của:

a)

Scanning Electron Microscopy

b)

Scanning Emission Microscopy

c)

Surface Electron Mapping

d)

Selected Electron Microscopy

52.

TEM là viết tắt của:

a)

Transmission Electron Microscopy

b)

Tunneling Electron Microscopy

c)

Total Electron Mapping

d)

Thin Electron Measurement

53.

FESEM nghĩa là:

a)

Field Emission Scanning Electron Microscopy

b)

Fast Electron Scanning EM

c)

Free Electron SEM

d)

Focused Emission SEM

54.

HRTEM viết tắt của:

a)

High Resolution TEM

b)

High Reactive TEM

55.

SAED trong TEM nghĩa là:

a)

Selected Area Electron Diffraction

b)

Small Angle Electron Diffusion

c)

Surface Analysis Electron Diffusion

d)

Scanning Angle Emission Diffraction

56.

EDS/EDX là:

a)

Energy Dispersive X-ray Spectroscopy

b)

Electron Density Spectrum

c)

Energy Diffusion Scan

d)

Electron Distribution XRD

57.

XRD viết tắt của:

a)

X-ray Diffraction

b)

X-ray Dispersion

c)

X-ray Detection

d)

X-ray Dynamic

58.

FTIR là:

a)

Fourier Transform Infrared Spectroscopy

b)

Fast Transmission Infrared Radiation

c)

Fourier Time Infrared Reflection

d)

Fourier Transfer Infrared Response

59.

ATR trong FTIR là:

a)

Attenuated Total Reflectance

b)

Atomic Total Resonance

c)

Active Transmission Radiation

d)

Attenuated Thermal Response

60.

UV–Vis là:

a)

Ultraviolet–Visible Spectroscopy

b)

Universal Voltage Visualization

c)

Ultra Vacuum Vision

d)

Unified Vibrational Imaging

61.

DLS là viết tắt của:

a)

Dynamic Light Scattering

b)

Diffraction Light Scan

c)

Digital Light Sensor

d)

Diffused Laser System

62.

XPS là:

a)

X-ray Photoelectron Spectroscopy

b)

X-ray Photon Scanning

c)

X-ray Plasma Scattering

d)

X-ray Photonic Source

63.

TGA là:

a)

Thermogravimetric Analysis

b)

Thermal Growth Analysis

c)

Thermo Gas Absorption

d)

Thermal Gravity Assessment

64.

DSC là:

a)

Differential Scanning Calorimetry

b)

Dynamic Sample Calorimetry

c)

Differential Spectrum Control

d)

Direct Scanning Chromatography

65.

BET là:

a)

Brunauer–Emmett–Teller method

b)

Basic Electron Transition

c)

Binary Energy Transfer

d)

Bulk Emission Test

66.

SEM cho thông tin:

a)

Bề mặt và hình thái mẫu

b)

Nhóm chức

c)

Band gap

d)

Nhiệt độ phân hủy

67.

TEM cho phép:

a)

Quan sát cấu trúc bên trong và mạng tinh thể

b)

Đo diện tích BET

c)

Xác định band gap

d)

Đo PDI

68.

FESEM khác SEM thường ở:

a)

Độ phân giải cao hơn (~0.5 nm)

b)

Không cần chân không

c)

Không dùng electron

d)

Chỉ dùng ánh sáng

69.

SAED dùng để:

a)

Phân tích cấu trúc tinh thể

b)

Đo diện tích bề mặt

c)

Đo hydrodynamic size

d)

Phân tích nhóm chức

70.

EDS gắn với SEM cho:

a)

Thành phần nguyên tố

b)

Trạng thái oxi hóa

c)

Band gap

d)

Khối lượng mẫu

71.

XRD chủ yếu để xác định:

a)

Pha tinh thể

b)

Band gap

c)

Nhóm chức

d)

Kích thước hydrodynamic

72.

Mẫu vô định hình trong XRD có:

a)

Vành nhiễu rộng, không có đỉnh sắc

b)

Đỉnh nhọn sắc nét

c)

Phổ tín mạnh

d)

Đỉnh Raman rõ

73.

Độ rộng đỉnh XRD được dùng để tính:

a)

Kích thước tinh thể (Scherrer)

b)

PDI

c)

Nhiệt độ nóng chảy

d)

Band gap

74.

FTIR cho biết:

a)

Nhóm chức, liên kết hóa học

b)

Pha tinh thể

c)

Kích thước hạt

d)

Band gap

75.

ATR-FTIR có ưu điểm:

a)

Đo dễ dàng mẫu rắn, không chuẩn bị phức tạp

b)

Chỉ đo dung dịch

c)

Đo electron

d)

Đo nhiệt

76.

Raman dựa trên:

a)

Tán xạ không đàn hồi của ánh sáng

b)

Nhiễu xạ X-ray

c)

Phát quang electron

d)

Quang phổ hấp thụ

77.

Raman đặc biệt hữu ích cho:

a)

Cấu trúc carbon (graphene, CNT)

b)

Nhiệt độ nóng chảy

c)

Band gap

d)

Hydrodynamic size

78.

UV–Vis dùng để xác định:

a)

Band gap và plasmon resonance

b)

Nhóm chức

c)

Độ tinh thể

d)

Diện tích bề mặt

79.

Đỉnh plasmon Au nano thường ở:

a)

520 nm

b)

100 nm

c)

700 nm

d)

350 nm

80.

DLS cho thông tin về gì?

a)

Kích thước hydrodynamic của hạt trong dung dịch

b)

Band gap

c)

Nhóm chức

d)

Pha tinh thể

81.

PDI trong DLS thể hiện điều gì?

a)

Độ đồng đều kích thước

b)

Trạng thái oxi hóa

c)

Band gap

d)

Độ tinh thể

82.

XPS dùng để xác định điều gì?

a)

Thành phần bề mặt và trạng thái oxi hóa

b)

Nhóm chức

c)

Hydrodynamic size

d)

Band gap

83.

Hạn chế của EDS là gì?

a)

Không phát hiện nguyên tố rất nhẹ (H, Li)

b)

Không phát hiện kim loại

c)

Không phân tích tổng hợp

d)

Không kết hợp SEM

84.

TGA đo thông tin gì?

a)

Khối lượng thay đổi theo nhiệt độ

b)

Band gap

c)

Liên kết hóa học

d)

Kích thước hạt

85.

DSC đo thông tin gì?

a)

Nhiệt thu/phát khi chuyển pha

b)

Trọng lượng mẫu

c)

Hydrodynamic size

d)

Pha tinh thể

86.

TGA có thể xác định điều gì?

a)

Hàm lượng hữu cơ/lớp phủ trên nano

b)

Band gap

c)

Nhóm chức

d)

PDI

87.

BET cho thông tin gì?

a)

Diện tích bề mặt riêng và mao quản

b)

Band gap

c)

Nhóm chức

d)

Hydrodynamic size

88.

BET thường sử dụng:

a)

Hấp phụ N₂ ở -196 °C

b)

CO₂ ở 25 °C

c)

O₂ ở nhiệt độ thường

d)

H₂O ở 100 °C

89.

HRTEM có thể quan sát:

a)

Mạng tinh thể, d-spacing

b)

Nhóm chức

c)

Band gap

d)

Hydrodynamic size

90.

Raman và FTIR là:

a)

Hai kỹ thuật bổ sung cho nhau

b)

Hoàn toàn giống nhau

c)

Không liên quan

d)

Cạnh tranh thay thế

91.

SEM khác TEM ở:

a)

SEM: ảnh bề mặt; TEM: cấu trúc bên trong

b)

SEM: cấu trúc mạng; TEM: bề mặt

c)

SEM: đo nhóm chức; TEM: đo band gap

d)

SEM: diện tích bề mặt; TEM: hydrodynamic

92.

TEM khác DLS ở:

a)

TEM: kích thước vật lý; DLS: kích thước hydrodynamic

b)

TEM: hydrodynamic; DLS: vật lý

c)

TEM: nhóm chức; DLS: pha tinh thể

d)

TEM: diện tích; DLS: band gap

93.

XRD và SAED giống nhau ở:

a)

Cả hai đều cho thông tin tinh thể

b)

Cả hai đo hydrodynamic size

c)

Cả hai đo nhóm chức

d)

Cả hai đo diện tích bề mặt

94.

FTIR khác Raman ở:

a)

FTIR nhạy dao động có biến thiên moment lưỡng cực; Raman nhạy dao động thay đổi phân cực

b)

FTIR đo cấu trúc tinh thể; Raman đo điện tích

c)

FTIR đo hydrodynamic size; Raman đo PDI

d)

FTIR đo band gap; Raman đo plasmon

95.

UV–Vis khác FTIR ở:

a)

UV–Vis cho band gap; FTIR cho nhóm chức

b)

UV–Vis cho diện tích; FTIR cho hydrodynamic

c)

UV–Vis cho hydrodynamic; FTIR cho band gap

d)

UV–Vis cho nhóm chức; FTIR cho diện tích

96.

EDS khác XPS ở:

a)

EDS cho nguyên tố; XPS cho trạng thái oxi hóa

b)

EDS cho hydrodynamic; XPS cho band gap

c)

EDS cho nhóm chức; XPS cho diện tích

d)

EDS cho nhiệt; XPS cho PDI

97.

TGA khác DSC ở:

a)

TGA: thay đổi khối lượng; DSC: hiệu ứng nhiệt

b)

TGA: nhóm chức; DSC: hydrodynamic

c)

TGA: diện tích; DSC: band gap

d)

TGA: pha tinh thể; DSC: electron

98.

BET khác DLS ở:

a)

BET: diện tích bề mặt; DLS: kích thước trong dung dịch

b)

BET: hydrodynamic; DLS: diện tích

c)

BET: trạng thái oxi hóa; DLS: band gap

d)

BET: nhóm chức; DLS: tinh thể

99.

Kỹ thuật cho ảnh bề mặt dạng 3D trực quan:

a)

SEM

b)

TEM

c)

XRD

d)

BET

100.

Kỹ thuật quan sát mạng tinh thể trực tiếp:

a)

HRTEM

b)

SEM

c)

FTIR

d)

BET